& encuentre a todos sus clientes en un solo lugar durante todo el año
Hacerse expositor
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... configuración hasta la ejecución de las pruebas de caracterización hasta en un 50%, lo que permite una capacidad de medición y análisis sin concesiones. Además, la experiencia en mediciones integrada proporciona una guía ...
... Equipo de pruebas automáticas de nueva generación configurable para productos de potencia de Si, SiC y GaN; circuitos integrados de controladores de lado alto y lado bajo, IGBT, MOSFET de potencia, circuitos integrados ...
Microtest
... Sistema DMT para una solución de pruebas a medida. Ocupa poco espacio gracias a la alta integración de hardware, probador de ultra alta densidad. Más recursos que un comprobador estándar de gran tamaño en un espacio limitado. Aspectos ...
Microtest
... con amortiguación crítica e inductancia de prueba parásita de 20-40 nH normalmente. La tecnología SocketSafeTM protege la celda de prueba en caso de que un dispositivo falle de forma catastrófica durante ...
Microtest
... Equipos de prueba automáticos configurables para productos de potencia de Si, SiC y GaN; circuitos integrados de conductor de lado alto y bajo, IGBT, MOSFET de potencia, circuitos integrados de potencia. Aspectos ...
Microtest
... SOLUCIÓN MUY COMPACTA PARA PRUEBAS DE DISPOSITIVOS MEMS ATE flexible y de bajo coste, para mercados de muy alto paralelo y baja complejidad como MEMS, abiertos/cortos y lógica de consumo. Aspectos destacados: - V/I y ...
Microtest
... de temperatura altamente dinámico que puede llevar y mantener la temperatura del DUT hasta 150°C y hasta -45°C durante las pruebas. Características destacadas: - Increíblemente más rápido manteniendo un tamaño reducido - ...
Microtest
... transmisión de potencia. Garantizan velocidades de giro rápidas y formas de onda de prueba de alta calidad con amortiguación crítica en menos de 200 ms. FLEXIBILIDAD DE PRUEBAS Pruebe ...
Microtest
... Presión Insaturada HAST PCT se aplica ampliamente a la prueba de la propiedad de sellado para la placa de circuito de múltiples capas, el paquete de sellado IC, la pantalla LCD, LED, semiconductores, ...
& encuentre a todos sus clientes en un solo lugar durante todo el año
Hacerse expositora los mejores proveedores
¿Cuáles?
Ayúdenos a mejorar:
caracteres restantes