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Microscopios de 3 ejes
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Peso: 990 kg
Ancho: 1.190 mm
Altura: 1.800 mm
... dedicado basado en SEM y diseñado para satisfacer las necesidades analíticas de los dispositivos semiconductores del nodo de diseño de 10 nm y posteriores. El actuador piezoeléctrico de precisión está equipado con movimientos ...
Resolución espacial: 0,1 nm
Peso: 159, 284 kg
Largo: 1.024, 762 mm
Un microscopio que mide hasta cada necesidad individual No importa si sus muestras son pequeñas o grandes, simples o complejas, o que las mediciones sean llevadas a cabo por un operador principiante o experto, la serie ...
... Los sistemas totalmente integrados de agotamiento de emisión estimulada (STED, por sus siglas en inglés) Leica TCS SP8 STED 3X y Leica TCS SP8 STED ONE cumplen con los requisitos de la investigación cotidiana y proporcionan ...
... laboratorios clínicos, particularmente para citología, hematología y patología. Para necesidades especiales de diagnóstico, el microscopio está homologado para el diagnóstico in vitro (DIV) y la fecundación in vitro (FIV). Leica ...
Aumento: 10 unit - 1.000 unit
Largo: 750 mm
Ancho: 700 mm
... medición con mayor rapidez. Hawk Duo también puede llevar a cabo rutinas de medición rápidas y programables con control CNC de 3 ejes. Objetos grandes Una generosa capacidad de medición de 200 mm ...
... Juntas - Perfiles, etc Microscopios de taller de la serie WM1 - Soluciones a medida para su aplicación de medición No importa si elige una versión manual o CNC del WM1: nuestros dos paquetes de software de medición, ...
... rápido con la máxima precisión de medición WM1 400 (300) CNC / WM1 400 (300) M3 CNC - Software de medición y análisis SAPHIR o software de medición M3 - Sistema CNC de 3 ejes ...
Peso: 17 kg
Largo: 490 mm
Ancho: 251 mm
La serie de microscopios polarizadores ECLIPSE LV100N POL y Ci-POL se utiliza para estudiar las propiedades birrefringentes de especímenes anisotrópicos al observar el contraste de la imagen y los cambios de color. Nikon ...
Nikon Metrology
Aumento: 50, 100, 200, 400 unit
Resolución espacial: 1.000, 5.000 nm
Peso: 45 kg
... Sistema óptico CCIS Ocular WF lox (ø25mm) WF 1 Ox (ø20mm) con retículo 0,01 mm/div Objetivos acromáticos plan larga distancia de trabajo PL L 5x/O.15 WD=4400mm PL L IOW030 WD=3400mm PL L 20W035 WD=3000mm PL L 40WO.35WD=30.OOmm Inclinación ...
... Usage: Los microscopios metalúrgicos de medición de la serie INSPECT son ampliamente utilizados en paquetes de semiconductores, almohadillas de soldadura, altura de bucle, paneles FPD (LCM), CSPS a nivel de oblea y así ...
Resolución espacial: 1 nm
... Microscopios invertidos motorizados Los microscopios MVR de Zaber reducen las barreras a la microscopía automatizada. Combinando el control de movimiento de precisión de Zaber con una ...
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