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... Los sistemas totalmente integrados de agotamiento de emisión estimulada (STED, por sus siglas en inglés) Leica TCS SP8 STED 3X y Leica TCS SP8 STED ONE cumplen con los requisitos de la investigación cotidiana y proporcionan un acceso ...
... laboratorios clínicos, particularmente para citología, hematología y patología. Para necesidades especiales de diagnóstico, el microscopio está homologado para el diagnóstico in vitro (DIV) y la fecundación in vitro (FIV). Leica Microsystems ...
Resolución espacial: 0,1 nm
Peso: 159, 284 kg
Largo: 1.024, 762 mm
... Un microscopio que mide hasta cada necesidad individual No importa si sus muestras son pequeñas o grandes, simples o complejas, o que las mediciones sean llevadas a cabo por un operador principiante o experto, la serie STM7 de Olympus ...
Aumento: 10 unit - 1.000 unit
Largo: 750 mm
Ancho: 700 mm
... medición con mayor rapidez. Hawk Duo también puede llevar a cabo rutinas de medición rápidas y programables con control CNC de 3 ejes. Objetos grandes Una generosa capacidad de medición de 200 mm x 150 mm le permite ...
Peso: 9,5 kg
Largo: 657 mm
Ancho: 251 mm
... análisis Gracias al diseño modular, el microscopio universal permite utilizar técnicas de contraste óptico complementarias en un solo soporte para microscopio. Nikon ECLIPSE LV100NDA y LV100ND Estos microscopios ...
Aumento: 40 unit - 300.000 unit
Resolución espacial: 4 nm - 8 nm
Peso: 120 kg
... Descripción
- Microscopio electrónico de barrido de sobremesa CEM3000A diseñado para la observación de la morfología a escala microscópica y el análisis de superficies de materiales. Soporta imágenes de alto contraste
... rápido con la máxima precisión de medición WM1 400 (300) CNC / WM1 400 (300) M 3 CNC - Software de medición y análisis SAPHIR o software de medición M 3 - Sistema CNC de 3 ejes Cámara ...
Dr. Heinrich Schneider Messtechnik GmbH
Aumento: 50, 100, 200, 400 unit
Resolución espacial: 1.000, 5.000 nm
Peso: 45 kg
... Sistema óptico CCIS Ocular WF lox (ø25mm) WF 1 Ox (ø20mm) con retículo 0,01 mm/div Objetivos acromáticos plan larga distancia de trabajo PL L 5x/O.15 WD=4400mm PL L IOW030 WD=3400mm PL L 20W035 WD=3000mm PL L 40WO.35WD=30.OOmm Inclinación de 00 a 450 Distancia ...
... Usage： Los microscopios metalúrgicos de medición de la serie INSPECT son ampliamente utilizados en paquetes de semiconductores, almohadillas de soldadura, altura de bucle, paneles FPD (LCM), CSPS a nivel de oblea y así sucesivamente. Características: ...
Resolución espacial: 1 nm
... Microscopios invertidos motorizados Los microscopios MVR de Zaber reducen las barreras a la microscopía automatizada. Combinando el control de movimiento de precisión de Zaber con una óptica de clase ...
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