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Microscopio óptico Eclipse LV100ND
para la inspección de inclusiones no metálicasde inspecciónpara inspección de obleas en línea

Microscopio óptico - Eclipse LV100ND - Nikon Metrology - para la inspección de inclusiones no metálicas / de inspección / para inspección de obleas en línea
Microscopio óptico - Eclipse LV100ND - Nikon Metrology - para la inspección de inclusiones no metálicas / de inspección / para inspección de obleas en línea
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Características

Tipo
óptico
Aplicaciones técnicas
para la inspección de inclusiones no metálicas, de inspección, para inspección de obleas en línea, de laboratorio, de medidas, médico, para investigación en materiales, de medición de profundidad, para mediciones en películas delgadas, para medición sin contacto de 3 ejes, industrial, metalúrgico, para control de calidad, multiusos
Ergonomía
recto
Tipo de cabeza
trinocular, binocular
Técnica de observación
de campo claro, de fluorescencia, polarizado, de contraste de fase, de campo oscuro, de infrarrojos, de contraste de interferencia diferencial
Configuración
de mesa
Fuente de luz
con iluminación LED, de iluminación coaxial
Otras características
de captura de imagen, con cámara digital, para topografía, para oblea, USB, de alta resolución, automatizado, de alta precisión, para inspección de fibra óptica, para nanotecnología, con gran distancia de trabajo, ergonómico, modular, acústico de barrido SAM, para integración en microscópios y perfilómetros, para muestras planas, de 3 ejes, sencillo de instalar, con platina deslizante, de fuerte contraste, de gran aumento, con control de la intensidad luminosa, en tiempo real, para muestras pulidas, de tratamiento de imágenes, para semiconductor, motorizado, de alta definición, de temperatura variable, baja temperatura, con iluminación especial, para identificación de amianto, con sistema de metrologia interferométrica de luz blanca, económico
Peso

9,5 kg
(20,9 lb)

Largo

657 mm
(25,9 in)

Ancho

251 mm
(9,9 in)

Altura

506 mm
(19,9 in)

Descripción

La serie ECLIPSE LV100NDA y LV100ND de microscopios verticales, modulares y flexibles de Nikon está diseñada para técnicas de contraste óptico episcópico y diascópico. Los instrumentos se pueden suministrar con accesorios de cámara de imágenes digitales y son ideales para la inspección de materiales en muchas aplicaciones industriales. Microscopios verticales modulares, manuales y motorizados La magnífica óptica de Nikon CFI60-2 ofrece inmejorables imágenes a los dos oculares y a las cámaras de imagenología digital de Nikon con software de análisis Gracias al diseño modular, el microscopio universal permite utilizar técnicas de contraste óptico complementarias en un solo soporte para microscopio. Nikon ECLIPSE LV100NDA y LV100ND Estos microscopios con iluminación episcópica y diascópica están destinados a la inspección de materiales y componentes industriales, así como a aplicaciones de investigación y desarrollo. Serie óptica Nikon CFI60-2 El innovador diseño de Nikon permite técnicas de imagen claras, que incluyen alto contraste, campo claro, campo oscuro, polarización (POL), contraste de interferencia diferencial (DIC) y contraste óptico de interferometría de doble haz. Cámaras Digital Sight Nikon El amplio rango de cámaras Digital Sight pueden capturar imágenes de una muestra y llevarlas al software de procesamiento de imágenes en el paquete NIS-Elements junto con los datos del microscopio sobre el lente de objetivo utilizado, la configuración del aumento y la intensidad de luz.
* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.