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microscopio para bateríaPhenom ParticleX
Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 10 nm
Peso: 75 kg
... rendimiento que otros SEM El SEM de sobremesa Thermo Scientific Phenom ParticleX Battery ofrece una velocidad y precisión extraordinarias. Ofrece un rendimiento ultrarrápido que es hasta 10 veces más rápido que los microscopios ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Aumento: 2.000.000 unit
Resolución espacial: 10, 3, 2, 200, 400 nm
Peso: 75 kg
... Pharos G2 SEM recursos ¿Desea obtener más información sobre el FEG-SEM de sobremesa Phenom Pharos G2? Sumérjase en una gran cantidad de recursos, desde libros electrónicos hasta hojas de datos. Obtenga imágenes a nanoescala ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolución espacial: 0,7, 1, 0,6 nm
... Caracterización por microscopía electrónica de barrido de nanomateriales con resolución subnanométrica y alto contraste del material. Microscopio electrónico de barrido Verios 5 XHR El ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio electrónico de barrido de emisión de campoZEISS GeminiSEM
Resolución espacial: 0,7, 1,2 nm
... ZEISS GeminiSEM permite captar imágenes de forma sencilla con resolución subnanométrica. Estos FE-SEM ( microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo) combinan una excelente captura de imágenes y capacidad de ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... Los instrumentos de la familia EVO combinan la microscopía electrónica de barrido (SEM) de alto rendimiento con una experiencia intuitiva y sencilla que resulta atractiva tanto para los usuarios experimentados como para ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... análisis FIB-SEM. Maximice su información de SEM Obtenga información auténtica de la muestra de sus imágenes SEM de alta resolución usando la óptica de electrones Gemini. Confíe en el rendimiento SEM ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
microscopio electrónico de transmisión y barridoSU9000 II
Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... El SU9000 II es una combinación de SEM de imagen superficial y microscopio de transmisión por barrido con resolución de estructura intrínseca (STEM) optimizado para una resolución extrema. Esto es posible gracias a la ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,6 nm
... Equipado de serie con una esclusa para muestras de 150 mm, el SU8700 ofrece un alto rendimiento de muestras, incluso para las más grandes, y un entorno de cámara de muestras constantemente limpio para obtener imágenes de alta resolución y baja contaminación. ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,7, 0,6 nm
... El SU8600 es el sucesor de la acreditada familia de SEM de emisión de campo Regulus y cumple los requisitos más exigentes para aplicaciones orientadas a la obtención de imágenes. El emisor de campo frío con su emisión casi monocromática, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... obtener imágenes de alta calidad mediante operaciones sencillas, incluso para quienes nunca antes han utilizado un microscopio electrónico. Características Alto rendimiento -Aumento de la productividad para una mayor ...
Jeol
Aumento: 50 unit
Peso: 45 kg
... Nikon son una gama de microscopios de semiconductores ideales para la inspección de circuitos integrados (IC), pantallas planas (FPD), dispositivos electrónicos de integración a gran escala (LSI) y muchas más aplicaciones. Microscopios ...
Aumento: 20 unit - 220 unit
Peso: 125 g
Largo: 10,5 cm
... Edge de Dino-Lite se puede conectar directamente a un televisor HDTV o a una pantalla LCD a través de una interfaz visual digital directa (DVI/HDMI). Ofrece una resolución nítida y brillante de 720p en HD para visualizar incluso los detalles ...
... MICROSCOPIO DIGITAL PARA MEDICIONES AUTOMÁTICAS DE BRINELL ISO 6506 - ASTM E10 Microscopio electrónico para la medición automática de la indentación Brinell con una bola de Ø 2,5 o 5 ...
Resolución espacial: 20 nm
... Microscopía sensible a la superficie 20 nm Resolución lateral Espectroscopia local imágenes k-Space Fácil de operar Compatible con sistemas MULTIPROBE UHV Un producto FOCUS La Microscopía Electrónica ...
Aumento: 1.000.000 unit
Resolución espacial: 3 nm
microscopio electrónico de barridoSEM3200
Aumento: 300.000 unit
Resolución espacial: 4, 7, 3 nm
Peso: 480 kg
... CIQTEK SEM3200 es un microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno de alto rendimiento. Tiene excelentes capacidades de calidad de imagen tanto en modo de alto como de bajo vacío. También tiene una gran ...
CIQTEK Co., Ltd.
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