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Microscopios para nanotecnología
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microscopio electrónico de transmisión y barridoSU9000 II
Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... El SU9000 II es una combinación de SEM de imagen superficial y microscopio de transmisión por barrido con resolución de estructura intrínseca (STEM) optimizado para una resolución extrema. Esto es posible gracias a la ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,8 nm
... El SU7000 es ideal para muestras grandes o pesadas y para integrar una amplia gama de accesorios. Estos accesorios incluyen detectores analíticos o accesorios de platina para la manipulación de muestras in situ (estiramiento [tracción] / compresión, calentamiento/enfriamiento, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm
... en color de las placas de muestra cubren toda el área de muestra observable por SEM - Funcionamiento despreocupado: las colisiones entre la platina y los componentes del SEM quedan prácticamente eliminadas gracias a ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 6 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 4, 15 nm
... FlexSEM II es un SEM de sobremesa/compacto para tareas de captura de imágenes que van más allá del rendimiento de los SEM de sobremesa convencionales. Es el sistema ideal para cualquiera que no quiera invertir en un SEM ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 10 unit - 250.000 unit
... Diseñado como una extensión lógica de la microscopía óptica estereoscópica, el TM4000 III es un dispositivo básico para la microscopía electrónica de barrido. Permite obtener imágenes de muestras en el menor tiempo posible ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 20 unit - 8.000.000 unit
Resolución espacial: 0,08, 0,1 nm
... El HF5000 es un S/TEM con corrección de Cs personalizable para experimentos in situ. La característica especial la proporciona el detector Everhart Thornley SE, que toma imágenes de la superficie de la muestra a 60-200kV, igual que en un SEM. Esto resulta ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio ópticoEclipse LV100ND
Peso: 9,5 kg
Largo: 657 mm
Ancho: 251 mm
... análisis Gracias al diseño modular, el microscopio universal permite utilizar técnicas de contraste óptico complementarias en un solo soporte para microscopio. Nikon ECLIPSE LV100NDA y LV100ND Estos microscopios ...
... de BF, DF, DIC y POL para los múltiples análisis. Microscopio invertido de nivel inicial para aplicaciones de uso general para ensayos de dureza Microscopio invertido de ciencia industrial y de materiales especialmente ...
... cuanto al tamaño de exploración o el tipo de configuración. DriveAFM funciona tanto de forma autónoma como integrado en un microscopio óptico invertido. Una gama completa de modos de captura de imágenes, la posibilidad de utilizar voladizos ...
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