& encuentre a todos sus clientes en un solo lugar durante todo el año
Hacerse expositor
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Los sistemas de metrología de películas SpectraFilm™ F10 y F20 ofrecen mediciones precisas de películas finas para capas críticas en dispositivos lógicos y de memoria avanzados. Gracias a una fuente de luz de alto brillo ...
KLA Corporation
... Aleris 8350 es un sistema de metrología de películas de alto rendimiento que cumple las tolerancias de proceso más estrictas requeridas para las mediciones de espesor, índice de refracción y tensión en películas críticas. ...
KLA Corporation
... espectroscopía láser basada en QCL para la medición ultrsensible de N2O. Proporciona respuesta rápida, alta sensibilidad de medida y fuerte resistencia a interferencias de gases de fondo en condiciones dinámicas ...
... EL SISTEMA Sistema de comprobación de la PRESIÓN mediante "espectroscopia láser". Inspecciona, SIN CONTACTO, todos los tipos de envase sin que influya en ello las variaciones fisiológicas de la tapa y del envase mismo. ...
& encuentre a todos sus clientes en un solo lugar durante todo el año
Hacerse expositora los mejores proveedores