Aparato de control de semiconductores

La inspección de dispositivos semiconductores es una etapa crucial en el proceso de producción microelectrónica. Implica una inspección de alta precisión en busca de defectos en múltiples fases de producción, el registro y la presentación de los resultados, así como la generación de información relacionada con el control de calidad a la que se pueda acceder y sobre la que se pueda actuar de forma inmediata con el fin de mejorar el rendimiento global. CIMS ofrece soluciones de inspección automatizadas para obleas con patrones, así como diversos productos de fan-out y fan-in tanto para WLP (empaquetado a nivel de oblea) como para PLP (empaquetado a nivel de panel). Los sistemas AOI de CIMS para microelectrónica están ayudando a nuestros clientes a aumentar drásticamente el rendimiento de su proceso de fabricación, así como a mejorar la calidad del producto final.