Microscopio con filamento de tungsteno SEM 3300

electrónico de barridopara análisispara analizar materiales

CIQTEK SEM3300 Microscopio SEM Especificaciones *Óptica de electrones Resolución: 2,5 nm @ 15 kV, SE 4 nm @ 3 kV, SE 5 nm @ 1 kV, SE Tensión de aceleración: 0,1 kV ~ 30 kV Aumento (Polaroid): 1 x ~ 300.000 x *Cámara de muestras Cámara: Navegación óptica Monitorización de Cámara Tipo de platina: 5-Ejes Compatible con Vacío Motorizado Alcance XY: 125 mm Rango Z 50 mm Rango T: - 10° ~ 90 Alcance R 360° *Detectores SEM Estándar: Detector de electrones en lente (Inlens) Detector Everhart-Thornley (ETD) Opcional: Detector retráctil de electrones retrodispersados (BSED) Espectrómetro de energía dispersiva (EDS / EDX) Patrón de difracción de electrones retrodispersados (EBSD) *Opcional Bloqueo de carga para intercambio de muestras Trackball y panel de control *Interfaz de usuario Sistema Operativo: Windows Navegación: Navegación Óptica, Navegación Rápida por Gestos, Trackball (Opcional) Funciones Automáticas: Brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmatizador automático El microscopio electrónico de barrido (SEM) CIQTEK SEM3300 incorpora tecnologías como la óptica de electrones "Super-Tunnel", detectores de electrones en la lente y lentes objetivas compuestas electrostáticas y electromagnéticas. Al aplicar estas tecnologías al microscopio de filamento de tungsteno, se supera el antiguo límite de resolución de este tipo de SEM, lo que permite al SEM de filamento de tungsteno realizar tareas de análisis de bajo voltaje que antes sólo podían realizarse con SEM de emisión de campo. *Superación del límite de resolución de los SEM de filamento de tungsteno *Detector de electrones en la lente *Lente objetivo combinada electromagnética y electrostática *Uso más seguro *Excelente capacidad de ampliación