Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo SEM4000X

de inspecciónde laboratoriopara analizar materiales

Especificaciones del microscopio CIQTEK SEM4000X FESEM Óptica electrónica Resolución: 0.9 nm@ 30 kV, SE 1.2 nm@15 kV, SE 1.9 nm@1 kV, SE 1.5 nm@1 kV (Ultra deceleración del haz) 1 nm@15 kV (Ultra deceleración del haz) Tensión de aceleración: 0,2 kV ~ 30 kV Aumento (Polaroid): 1 ~ 1,000,000 x Tipo de cañón de electrones: Cañón de electrones de emisión de campo Schottky Cámara de muestras Cámara: Cámaras duales (navegación óptica + monitorización de la cámara) Alcance de la platina: X: 110 mm Y: 110 mm Z: 50 mm T: -10°~ +70° R: 360° Detectores y extensiones SEM - Estándar: Detector de electrones en lente: UD-BSE/UD-SE Detector Everhart-Thornley: LD Opcional: Detector de electrones retrodispersados (BSED) Detector retráctil de microscopía electrónica de transmisión por barrido (STEM) Detector de bajo vacío (LVD) Espectrómetro de energía dispersiva (EDS / EDX) Patrón de difracción de retrodispersión de electrones (EBSD) Esclusa de carga de intercambio de muestras (4 pulg./8 pulg.) Trackball y panel de control Tecnología Ultra Beam Deceleration Mode El CIQTEK SEM4000X es un FE-SEM estable, versátil, flexible y eficiente. Se enfrenta fácilmente a los retos de imágenes de alta resolución para diversos tipos de muestras. Puede actualizarse con un modo de desaceleración de haz ultra para mejorar aún más la resolución de bajo voltaje. # Alta resolución # Tecnología multidetector # Alineación simplificada # Construido a partir de una plataforma de gama alta # Tecnología de Modo de Desaceleración del Haz Ultra # Excelente Capacidad de Expansión