Sistema de prueba de funcionamiento HATINA GP
para aplicaciones automóvilespara la industria electrónicade circuito integrado

Sistema de prueba de funcionamiento - HATINA GP - Cosmic Equipment S.p.A. - para aplicaciones automóviles / para la industria electrónica / de circuito integrado
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Características

Tipo de prueba
de funcionamiento
Sector
para aplicaciones automóviles, para la industria electrónica
Aplicaciones
de circuito integrado, de PMIC, para semiconductores
Forma
modular, compacto
Otras características
de precisión, de corriente fuerte, de multicanal, de alta tensión

Descripción

Descripción del producto
HATINA GP es una plataforma ATE (equipo de prueba automatizado) diseñada para la caracterización y pruebas de producción de Smart Power ICs y SoCs con alto grado de paralelismo. Cuenta con un mainframe modular configurable de hasta 10 ranuras que integra fuentes analógicas/potencia, canales digitales e instrumentos de medida avanzados en una plataforma compacta y eficiente. El control se realiza mediante una interfaz gráfica; el software Kronos permite la generación automática de programas de prueba para acelerar el desarrollo y la puesta en producción.

Capacidades clave
HATINA GP admite una mezcla flexible de instrumentos por ranura: canales digitales de alta velocidad, fuentes DC de alta corriente y unidades de medida de precisión. El chasis modular facilita la ampliación y el mantenimiento. Los recursos por ranura incluyen E/S digitales de alta velocidad, PPMU y cargas activas, módulos DCS de alta corriente, AWG, digitalizador y medidores diferenciales. Es apto para flujos de prueba a nivel de oblea y de dispositivos encapsulados.

Razones
  • Multiplexor integrado que reduce la complejidad de la placa de carga
  • Eficiencia de prueba en paralelo >99% para minimizar el coste de prueba (COT)
  • Instrumentación modular que permite ajustarse a las necesidades del mercado y la tecnología
  • Huella reducida y menor consumo para optimizar costes operativos
  • Generación automática de programas de prueba con Kronos para acortar el tiempo de desarrollo

Visión general / Casos de uso
Diseñado para pruebas en alta paralelización de ASIC, PMIC, Smart Power IC/SoC en sectores automotriz, industrial y de gestión de potencia. Soporta pruebas a nivel de oblea y en dispositivos encapsulados; simplifica el diseño de la placa de carga e integra en líneas de producción automatizadas. Recursos típicos por ranura: canales digitales (hasta 256 CH por ranura; algunas placas soportan velocidades superiores), fuentes DC de alta corriente, módulos de medida de precisión, AWG y digitalizador.

Resumen de especificaciones
  • Familia de modelos: HATINA GP (ATE de propósito general)
  • Mainframe: modular, hasta 10 ranuras
  • Dimensiones (D×W×H): 640 mm × 670 mm × 700 mm
  • DCS HP: 16 canales, ±80 V / ±10 A, flotante
  • DCS LP: 160 canales, -80 V / +110 V @ ±200 mA
  • DCS MP: 80 canales, -80 V / +110 V @ ±4 A
  • Digital: hasta 256 canales digitales por ranura; 256 CH por placa; PPMU; carga activa
  • Memoria de patrones: 64M por pin (hasta 128M)
  • Profundidad de memoria: 64M vectores DSIO / HRAM por pin
  • AWG: 16 canales, 400 MSPS
  • Digitalizador / TMS: 16 canales, 80 MSPS
  • Medidor de tensión diferencial: 16 canales
  • Canales digitales por ranura: depende de la placa (referenciado hasta 800 MHz en material detallado)
  • Software: conjunto Kronos para generación automatizada de programas de prueba

Ferias

Este distribuidor estará presente en las siguientes ferias

Semicon
Semicon

10-13 nov. 2026 Munich (Alemania)

  • Más información
    * Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.