Maneja desde la luz visible hasta la luz infrarroja cercana con una sola unidad equipándola con un láser de múltiples longitudes de onda
El iPHEMOS®-MPX es un microscopio de emisión de alta resolución que localiza fallos en dispositivos semiconductores detectando las débiles emisiones de luz y calor causadas por los defectos.
iPHEMOS es una marca registrada de Hamamatsu Photonics K.K. (Japón).
Características
Se pueden montar dos cámaras de sensibilidad ultra alta
La cobertura de diferentes rangos de longitudes de onda de detección para el análisis de emisiones y el análisis térmico permite seleccionar fácilmente una técnica de análisis que se ajuste a la muestra y al modo de fallo.
Se pueden montar hasta 4 fuentes de luz para OBIRCH, DALS, EOP y marcador láser
Lente macro de alta sensibilidad y hasta 10 lentes adecuadas para cada longitud de onda de sensibilidad del detector
Platina de alta precisión diseñada para dispositivos avanzados
Funciones básicas de visualización
Función de visualización superpuesta/mejora del contraste
El iPHEMOS-MPX superpone la imagen de emisión a una imagen patrón de alta resolución para localizar rápidamente los puntos defectuosos.
La función de mejora del contraste hace que la imagen sea más clara y detallada.
Función de visualización
Anotaciones: Comentarios, flechas y otros indicadores se pueden mostrar en una imagen en cualquier lugar deseado.
Visualización de la escala: La anchura de la escala puede visualizarse en la imagen mediante segmentos.
Visualización de la cuadrícula: La imagen puede mostrar líneas de cuadrícula verticales y horizontales.
Visualización de miniaturas: Las imágenes se pueden almacenar y recuperar como miniaturas, y se puede mostrar información de la imagen como las coordenadas del escenario.
Visualización en pantalla dividida: Las imágenes de patrón, las imágenes de emisión, las imágenes superpuestas y las imágenes de referencia pueden visualizarse a la vez en una pantalla de 6 ventanas.
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