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- HELMUT FISCHER GMBH - INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND
Espectrómetro de fluorescencia X-RAY XDV-SDDde fluorescencia de rayos Xde procesopara revestimientos
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Características
- Tipo
- de fluorescencia, de fluorescencia de rayos X
- Sector
- de proceso, para revestimientos, para la electrónica
Descripción
Medidor por fluorescencia de rayos X para las máximas exigencias, con mesa X/Y programable y eje Z para la medición automática de capas muy finas y para el análisis de trazas
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