- Metrología - Laboratorio
- Análisis Fisicoquímico
- Espectrómetro de fluorescencia
- HELMUT FISCHER GMBH - INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND
Espectrómetro de fluorescencia X-RAY XDV®-µde fluorescencia de rayos Xde laboratoriode medición
Añadir a mis favoritos
Añadir al comparador
Características
- Tipo
- de fluorescencia, de fluorescencia de rayos X
- Sector
- de laboratorio, de medición, para revestimientos
- Configuración
- compacto
Descripción
Medidor por fluorescencia de rayos X con óptica de rayos X policapilar para la medición y el análisis automáticos de espesores y composiciones de recubrimientos en los componentes y estructuras más pequeños.
Catálogos
No hay ningún catálogo disponible para este producto.
Ver todos los catálogos de HELMUT FISCHER GMBH - INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UNDOtros productos de HELMUT FISCHER GMBH - INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND
Coating Thickness
Búsquedas asociadas
- Espectrómetro HELMUT FISCHER
- Espectrómetro de laboratorio HELMUT FISCHER
- Espectrómetro para procesos
- Espectrómetro compacto HELMUT FISCHER
- Espectrómetro de mesa
- Espectrómetro XRF HELMUT FISCHER
- Conductímetro
- Espectrómetro de medición HELMUT FISCHER
- Espectrómetro portátil
- Espectrómetro de fluorescencia HELMUT FISCHER
- Espectrómetro automatizado HELMUT FISCHER
- Conductímetro portátil
- Espectrómetro EDXRF HELMUT FISCHER
- Espectrómetro para I+D
- Espectrómetro de rayos X
- Espectrómetro de mano
- Sonda por corrientes de Foucault
- Espectrómetro de producción
- Espectrómetro para la electrónica
- Sonda de espesor
* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.