Sistema de haz de iones focalizados NX9000

El nuevo sistema FIB-SEM de Hitachi, el NX9000, incorpora un diseño optimizado para un verdadero seccionamiento en serie de alta resolución que permite hacer frente a las últimas exigencias en materia de análisis estructural en 3D y para los análisis TEM y 3DAP. El sistema FIB-SEM NX9000 permite la más alta precisión en el procesamiento de materiales para una amplia gama de áreas relacionadas con materiales avanzados, dispositivos electrónicos, tejidos biológicos y una multitud de otras aplicaciones. - La columna SEM y la columna FIB están dispuestas ortogonalmente para optimizar el posicionamiento de la columna para el análisis estructural 3D. - La combinación de la fuente de electrones de emisión de campo frío de alto brillo y la óptica de alta sensibilidad permiten el análisis de una amplia gama de materiales, desde tejidos biológicos hasta materiales magnéticos. - El sistema de micromuestreo y el sistema de triple haz permiten la preparación de muestras de alta calidad para aplicaciones de TEM y de sonda atómica. Fresado de iones y observación en incidencia normal en tiempo real para obtener verdaderas imágenes analíticas La columna de SEM y la columna de FIB están dispuestas ortogonalmente para obtener imágenes de SEM con incidencia normal de secciones transversales de FIB. La disposición ortogonal de la columna elimina la deformación del aspecto, el escorzo de las imágenes de la sección transversal y el desplazamiento del campo de visión (FOV) durante la obtención de imágenes de la sección en serie, que no pueden evitarse con los sistemas FIB-SEM convencionales. Las imágenes del NX9000 permiten un análisis estructural 3D de gran precisión. La microscopía óptica correlativa puede aplicarse fácilmente gracias a las ventajas de las imágenes EM planas. Cut&See Cut & See permite obtener imágenes de alta resolución y alto contraste de tejidos biológicos, semiconductores y materiales magnéticos, como el acero y el níquel, a bajos voltajes de aceleración.