Medidor de espesores de revestimiento FT160 series

electrónicode precisión

Equipado con una óptica de enfoque de rayos X policapilar y un detector de deriva de silicio, el FT160 permite una gran precisión y un alto rendimiento en la medición del espesor del revestimiento de piezas electrónicas a nivel de nanoorden. Óptica policapilar de enfoque de rayos X Realiza mediciones de alta precisión irradiando rayos X primarios de alta luminancia en un área de aproximadamente 30 μmφ. Detector de deriva de silicio (SDD) como sistema de detección El detector de deriva de silicio de alta tasa de recuento permite una medición altamente precisa. Función de asistente de medición automática La precisa función de medición automática multipunto contribuye a la alta eficiencia de la medición. Fácil manejo gracias a la sencilla interfaz y a la función de ayuda del software Las mediciones rutinarias diarias se pueden realizar fácilmente mediante una receta registrada similar a la de la aplicación. Diseño del instrumento orientado a la seguridad La adopción de una carcasa cerrada minimiza en gran medida el riesgo de fugas de rayos X. El diseño de puerta ancha mejora la visibilidad de la muestra y la operabilidad del instrumento.