Detector CMOS Vortex®-90EX

de rayos Xdigitalde deriva de silicio

Los detectores de rayos X de deriva de silicio Vortex-EX presentan áreas activas de entre 30 mm2 y 80 mm2. Los detectores Vortex-90EX se fabrican con silicio de alta pureza utilizando la tecnología de producción CMOS más avanzada. Presentan una excelente resolución energética (<130 eV FWHM a Mn Kα es típico) y una alta capacidad de tasa de recuento. Con un tiempo de pico muy corto de 0,1 µs, se alcanza una tasa de recuento de salida de 900 kcps. Una característica única de estos detectores es su capacidad para procesar altas tasas de recuento con una pérdida muy pequeña en la resolución energética y un desplazamiento mínimo del pico con la tasa de recuento. Espectroscopia de fluorescencia de rayos X (XRF) a granel y microfluorescencia Micro XRF (tamaños adicionales disponibles en un futuro próximo) Difracción de rayos X (XRD) Emisión de rayos X inducida por partículas (PIXE) Fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF) Aplicaciones de radiación sincrotrón El Vortex-90EX funciona casi a temperatura ambiente y se enfría mediante un refrigerador termoeléctrico (TEC), y puede someterse a ciclos con la frecuencia necesaria sin que se degrade el rendimiento del detector. Los tiempos de enfriamiento suelen ser inferiores a 2 minutos. Los sistemas de espectroscopia de rayos X Vortex-90EX incluyen la unidad detectora y la caja de control, que incluye las fuentes de alimentación para el detector, el TEC y un procesador digital de impulsos (DPP) opcional con el software PI-SPEC. El detector completo también contiene un preamplificador sensible a la carga y un sistema de estabilización de la temperatura, que elimina los problemas de variación de la temperatura ambiente.