Indentador para ensayo de dureza NanoFlip

El comprobador nanomecánico universal NanoFlip dispone de un movimiento XYZ de alta precisión para posicionar la muestra para el ensayo y de un mecanismo de giro para posicionar la muestra para la obtención de imágenes. El software InView incluye un conjunto de métodos de ensayo que cubren una amplia gama de protocolos de ensayo, y también permite a los usuarios crear sus propios métodos de ensayo novedosos. El actuador InForce 50 funciona igual de bien tanto en condiciones de vacío como ambientales. El software InView puede grabar imágenes SEM o de otros microscopios y sincronizarlas con los datos de los ensayos mecánicos. La revolucionaria tecnología FIB-to-Test permite inclinar la muestra 90°, lo que permite una transición fluida del ensayo FIB al ensayo de indentación sin tener que retirar la muestra. Características - Amplio conjunto de métodos de ensayo nanomecánicos preprogramados para una mayor facilidad de uso - Actuador InForce 50 para medición de desplazamiento de capacitancia y actuación de fuerza electromagnética con puntas intercambiables - Controlador electrónico de alta velocidad InQuest con velocidad de adquisición de datos de 100 kHz y constante de tiempo de 20 µs - Sistema de movimiento XYZ para la orientación de la muestra - Captura de vídeo SEM para imágenes SEM sincronizadas con datos de prueba - Exclusivo sistema de calibración de puntas integrado en el software para una calibración rápida y precisa de las puntas - Software de control y revisión de datos InView compatible con Windows ®10 y desarrollador de métodos para experimentos diseñados por el usuario Aplicaciones - Mediciones de dureza y módulo (Oliver-Pharr) - Medición continua de la rigidez - Mapas de propiedades de materiales a alta velocidad - Ensayos de dureza ISO 14577 - Análisis mecánico nanodinámico (DMA) - Ensayos cuantitativos de rayado y desgaste