Máquina de control óptica Candela® 6300 series

de superficiede disco duro HDDpara la industria electrónica

Los sistemas analizadores ópticos de superficies de la serie Candela 6300 ofrecen funciones avanzadas de metrología e inspección para sustratos de almacenamiento de datos de metal o vidrio y soportes acabados. A medida que los fabricantes de sistemas de almacenamiento de datos se esfuerzan por mejorar la capacidad de almacenamiento de los dispositivos reduciendo aún más la altura de los cabezales, el control de la rugosidad de la superficie de los discos adquiere cada vez más importancia. La serie 6300 de analizadores ópticos de superficies aprovecha la cobertura de ancho de banda espacial más amplia del sector (0,22 - 2000µm) y el ruido de fondo por debajo de Å para satisfacer los requisitos de mediciones exhaustivas de rugosidad y microdispersión. La serie Candela 6300 de analizadores ópticos de superficies aprovecha la óptica multicanal patentada, combinada con una tecnología exclusiva de gestión de la estabilidad del láser, para ofrecer potentes funciones de metrología óptica de superficies para la eliminación de bordes, la uniformidad de textura/pulido, la caracterización de IDH y la inspección de arañazos y partículas. La avanzada tecnología de barrido óptico del sistema de inspección y metrología permite la metrología topográfica de toda la superficie del disco, tanto en dirección radial como circunferencial, y permite a los fabricantes utilizar una única herramienta para medir todo el espectro espacial. El aumento de la potencia del láser, la reducción del ruido de fondo y el nuevo diseño de la óptica eliminan la necesidad de pulverizar sustratos de vidrio para la detección de defectos, lo que permite identificar variaciones de rugosidad de < 0,1Å. Si se comparan los analizadores ópticos de superficies 6300 con otros sistemas como los dispersómetros o los sistemas de vibrometría láser Doppler, la serie 6300 es la mejor solución para obtener datos radiales y circunferenciales, así como información topográfica rápida y completa de la superficie en sustratos y soportes ultrasuaves.