Sistema de preparación de muestras automático EM TXP
para SEM

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Características

Funcionamiento
automático
Aplicaciones
para SEM

Descripción

El sistema Leica EM TXP es un dispositivo de preparación de blancos para fresar, aserrar, triturar y pulir muestras antes de realizar un examen mediante técnicas de SEM, TEM y LM. El microscopio estereoscópico integrado permite localizar y preparar de forma sencilla blancos apenas visibles. Con el brazo de pivote para muestras, es posible observar directamente la muestra en un ángulo entre 0° y 60° o de 90° con respecto a la cara frontal para determinar la distancia con una retícula ocular.

Catálogos

Leica EM FC7
Leica EM FC7
16 Páginas
Leica EM TXP
Leica EM TXP
10 Páginas
Leica EM RES102
Leica EM RES102
12 Páginas

Ferias

Este distribuidor estará presente en las siguientes ferias

BIEMH 2024
BIEMH 2024

3-07 jun. 2024 Bilbao (España) Hall 3 - Stand D-43

  • Más información
    * Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.