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Sistema de preparación de muestras automático EM TXPpara SEM
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Características
- Funcionamiento
- automático
- Aplicaciones
- para SEM
Descripción
El sistema Leica EM TXP es un dispositivo de preparación de blancos para fresar, aserrar, triturar y pulir muestras antes de realizar un examen mediante técnicas de SEM, TEM y LM.
El microscopio estereoscópico integrado permite localizar y preparar de forma sencilla blancos apenas visibles. Con el brazo de pivote para muestras, es posible observar directamente la muestra en un ángulo entre 0° y 60° o de 90° con respecto a la cara frontal para determinar la distancia con una retícula ocular.
Catálogos
Leica EM FC7
16 Páginas
Leica EM TXP
10 Páginas
Ferias
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