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- Leica Microsystems GmbH
Sistema de preparación automático UC Enuitypara SEMTEMbenchtop
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Características
- Funcionamiento
- automático
- Aplicaciones
- para SEM, TEM
- Configuración
- benchtop
Descripción
Ultramicrotomo de última generación para la preparación de secciones semifinas y ultrafinas, así como superficies lisas necesarias para el examen LM, TEM, SEM y AFM. Arco de segmento y portacuchillas motorizados de última generación y funciones de configuración automatizadas habilitadas. Interfaz de usuario intuitiva y configurable. Ultramicrótomo totalmente actualizable para crecer con sus necesidades. Incluye soporte técnico a distancia.
Catálogos
UC Enuity Product-Brochure
8 Páginas
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EM Sample Preparation
* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.
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