Aparato de pruebas de semiconductores HATINA 4Sde aislamientoeléctricode capacidad
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Características
- Tipo de prueba
- de corriente, de tensión, resistencia eléctrica, eléctrico, de calidad, de calibración, de aislamiento, de capacidad
- Modo de funcionamiento
- automático
- Tipo de producto
- de semiconductores, para circuito impreso, para componentes electrónicos, para sensor magnético, MEMS
- Sector
- para control de calidad, para la industria electrónica
- Tecnología
- digital
- Configuración
- compacto
- Otras características
- de precisión
Descripción
SOLUCIÓN MUY COMPACTA PARA PRUEBAS DE DISPOSITIVOS MEMS
ATE flexible y de bajo coste, para mercados de muy alto paralelo y baja complejidad como MEMS, abiertos/cortos y lógica de consumo.
Aspectos destacados:
- V/I y DPS de gran número de pines
- Alto número de pines digitales
- Mux integrado para una flexibilidad extrema
- Huella 0, bajo coste por emplazamiento
- Fácil integración de automatización
Características principales:
- 2 fuentes DCS_1A (fuerza y detección) multiplexadas en 256 posiciones diferentes por módulo
- 12 canales digitales multiplexados en 256 posiciones diferentes por módulo
- 20 canales digitales directos por módulo
Dimensiones
- Altura: 538 mm
- Anchura: 360 mm
- Profundidad: 330 mm
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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.