Cámara de pruebas de rodaje Hatina WLBIpara semiconductorpara control de calidad
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Características
- Tipo de prueba
- de rodaje
- Uso previsto
- para semiconductor
- Ámbito de aplicación
- para control de calidad
- Eslora
560 mm
(22,05 in)- Anchura
560 mm
(22 in)- Profundidad
550 mm
(22 in)
Descripción
Solución para Burn-In a nivel de oblea para MOS de potencia
Lo más destacado:
WLBI para tecnologías de potencia - Si, SiC, GaN
Compatible con obleas de 6, 8 y 12 pulgadas
Capaz de quemar obleas completas
Solución rentable para pruebas de fiabilidad y ciclo de vida
Aprovecha la tecnología estándar de la procesadora de obleas
Características principales:
Paralelismo: de 160 a 1600 sitios
Tensión: hasta 1,2KV por sitio
Corriente: 2 mA por sitio
Configuración de prueba:
Prueba funcional
HTGB
HTRB
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