Sistema de inspección con semiconductor MXI QUADRA™ 7 Pro

de rayos Xautomatizadode medición

La serie Quadra™ Pro crea imágenes de resolución ultraalta inmejorables. El tubo de rayos X NT4 de modo dual de alto rendimiento y el detector Onyx, ambos de diseño propio, proporcionan visibilidad incluso del detalle más pequeño y encuentran los defectos de forma inmediata. Nada volverá a pasar desapercibido. Quadra™ 7 Pro establece una nueva norma para la inspección 3D/2D manual con una mayor resolución para aplicaciones de semiconductor back-end. Equipado con la revolucionaria tecnología de detector Onyx®, ofrece una calidad de imagen excepcional y niveles de ruido reducidos, elevando la experiencia de inspección a los niveles más altos de precisión y eficacia. Quadra 7 Pro está provisto del tubo Quadra NT4® de modo dual más avanzado, que ofrece a los usuarios la máxima flexibilidad. Esta innovadora característica proporciona distintos modos de brillo y resolución, por lo que el usuario puede cambiar entre ellos dinámicamente en función de los requisitos específicos de la aplicación. Además de su hardware avanzado, Quadra 7 Pro se complementa con el software Revalution™ recientemente desarrollado. Diseñado específicamente para aplicaciones de semiconductor de gama alta, el software Revalution™ mejora la experiencia del usuario con su interfaz intuitiva, flujo de trabajo optimizado y funcionalidad ampliada. Permite a los usuarios analizar e interpretar los datos de inspección con eficacia, lo que ayuda a tomar decisiones más rápidas y mejora la productividad en general. Quadra™ 7 Pro crea imágenes de resolución ultraalta inmejorables. El tubo de rayos X de alto rendimiento y el detector, ambos de diseño propio,