& encuentre a todos sus clientes en un solo lugar durante todo el año
Hacerse expositor
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... calidad para los entornos de producción del futuro. El sistema 3D-AXI de mayor rendimiento del sector: Basado en el historial de soluciones innovadoras de alta calidad de Omron. Inspección de ...
... rejilla de bolas (BGA), μBGA, CSP y flip chip. Sistema de inspección móvil con dos objetivos de cambio rápido (en función del equipo): óptica BGA de 90° (separación ...
Ersa GmbH
... reconstrucción. Este sistema permite realizar pruebas exhaustivas en línea y fuera de línea de dispositivos electrónicos. El sistema industrial de inspección por tomografía computarizada ...
... Mesa de inspección de gran tamaño, láser Localizador para ubicación precisa 2. Pantalla LCD táctil interactiva FHD de 24'' 3. Control preciso, programación CNC, Posicionamiento automático 4. Inspección ...
... complejos. Además de la clásica inspección de SMD, el sistema compacto 3D-AXI iX7059 PCB Inspection o iX7059 PCB Inspection XL inspecciona los defectos de soldadura, como Head in Pillow ...
... encuentran los defectos de forma inmediata. Nada volverá a pasar desapercibido. Quadra™ 7 Pro establece una nueva norma para la inspección 3D/2D manual con una mayor resolución para aplicaciones de semiconductor back-end. ...
... PLCC y dispositivos con terminación en J. - Sistema de inspección con dos objetivos de cambio rápido: - Óptica BGA de 90° (separación aproximada de 280 µm) - Óptica de inspección ...
Kurtz GmbH & Co. KG
... tales como baterías de energía, cilindros, envases flexibles, conchas cuadradas y laminados, etc. Características del sistema de inspección por rayos X para semiconductores 1. La plataforma puede moverse ...
& encuentre a todos sus clientes en un solo lugar durante todo el año
Hacerse expositora los mejores proveedores
¿Cuáles?
Ayúdenos a mejorar:
caracteres restantes