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Sistema de metrología para obleas QS2200™para semiconductores
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Características
- Tipo
- para obleas, para semiconductores
Descripción
Análisis no destructivo de obleas
Resumen de productos
El sistema QS2200 es una herramienta de metrología FTIR diseñada específicamente para el análisis no destructivo de obleas. Se utiliza para la caracterización y medición de materiales semiconductores así como para la fabricación de dispositivos.
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