Sistemas de metrología para obleas

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sistema de metrología para obleas
sistema de metrología para obleas
PV-1000 series

... Para la vigilancia en proceso de las obleas solares/fotovoltaicas Módulo de medición del espesor de múltiples canales, TTV y arco para la supervisión en proceso de obleas solares/fotovoltaicas y otros ...

sistema de metrología para semiconductores
sistema de metrología para semiconductores
Proforma 300i

... contacto 76-300 mm de diámetro de la oblea Anillos de medición de obleas opcionales Los topes de obleas para el centrado exacto Interfaz Ethernet Software de control remoto completo ...

sistema de metrología para obleas
sistema de metrología para obleas
XHEMIS EX-2000

... HERRAMIENTA DE METROLOGÍA XRR Y XRF PARA Obleas de hasta 200 mm Espesor, densidad, rugosidad y composición de películas en obleas de manta Esta versátil herramienta de metrología ...

sistema de metrología para obleas
sistema de metrología para obleas
S3000/S2000™ Series

... de metrología de la serie S2000 ofrecen la misma precisión de medición superior, repetibilidad y coincidencia entre herramientas que los sistemas S3000. Utilizando el sistema patentado ...

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sistema de metrología para obleas
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Atlas® III+

... Al ampliar el rendimiento de la metrología a niveles de precisión y exactitud por debajo de los radios, el sistema Atlas III+ permite el control avanzado de procesos en una amplia gama de aplicaciones ...

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The Atlas XP+

... El sistema Atlas XP+ ofrece una plataforma única para las mediciones de película fina y OCD para la metrología de obleas de 200 mm. El sistema incorpora un robot de doble ...

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sistema de metrología para obleas
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IMPULSE®+

... El sistema IMPULSE+, un estándar de metrología integrado, ofrece la máxima sensibilidad y precisión a las desviaciones del proceso CMP y permite a los fabricantes de dispositivos establecer soluciones ...

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NanoSpec® II

... Disponible en configuraciones de sobremesa y autónomas, el sistema de análisis de películas Nanopsec II cierra el bucle entre la actividad de ingeniería e investigación y el uso final en producción de las recetas y los ...

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Vertex™

... El sistema Vertex controla el proceso de medición de PL para que su proceso epitaxial permanezca firmemente bajo control. Resumen de productos La última adición a la familia de RPM estándar de la industria, el sistema ...

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RPMBlue™

... El sistema RPMBlue es un mapeador de fotoluminiscencia (PL) que puede satisfacer las necesidades de casi todos los usuarios de semiconductores compuestos. Resumen de productos El sistema RPMBlue está ...

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Element™

... la transmisión y la reflexión. Este sistema es el estándar de la industria para la monitorización dieléctrica. Descripción del producto El sistema Element es la herramienta de referencia para los proveedores ...

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QS1200™

... tecnología óptica probada, y una bandeja manual de obleas para acomodar obleas estándar SEMI de 100, 125, 150, 200 y 300 mm de diámetro. En el sistema QS1200 también se pueden utilizar ...

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QS2200™

... Análisis no destructivo de obleas Resumen de productos El sistema QS2200 es una herramienta de metrología FTIR diseñada específicamente para el análisis no destructivo de obleas. ...

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