Analizador de propagación de rayos láser NMS-NS2s Seriesbenchtopportátilcompacto
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Características
- Mesurando
- de propagación de rayos láser
- Configuración
- benchtop, portátil, compacto
- Tipo de funcionamiento
- automático
- Tecnología
- de infrarrojos
Descripción
Solución de medición automática de M² con perfil de hendidura de exploración
Descripción
Este sistema de medición M² de rendija de escaneo analiza con precisión los láseres con longitudes de onda desde el ultravioleta hasta el infrarrojo lejano con su cabeza de silicio, germanio o piroeléctrico. Tiene un diseño compacto y portátil, resultados inmediatos, mediciones conformes a la norma ISO y funciona en modos de pulsos de CW o kHz, lo que lo hace ideal para el análisis exhaustivo de láseres de la mayoría de las longitudes de onda.
Recorrido del cabezal del escáner: 500 mm
Interfaz USB 2.0
Software de análisis M² incluido
Especificación
Longitudes de onda: Ver especificaciones del cabezal de exploración
Interfaz: USB 2.0
Tipo de sensor: Silicio, germanio o piroeléctrico
Área activa: Ver especificaciones del cabezal de exploración
Cumplimiento: CE, China RoHS
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Catálogos
* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.