Perfilómetro óptico TopMap Micro.View

3Dinterferométricocon interferometría de luz blanca

Perfilador óptico compacto para microestructuras y rugosidad TopMap Micro.View® es el perfilador de superficies compacto de la línea TopMap de interferómetros de luz blanca que permite inspecciones de superficies repetibles y de alta resolución de microestructuras, textura, acabado y parámetros de rugosidad areal (Sa, Sz, ...). Escanee sus superficies rápidamente y con una resolución inferior a nm. Con la tecnología de escaneo continuo CST integrada, el recorrido de 100 mm en el eje Z ofrece un rango de medición completo de 100 mm con una resolución vertical en el rango de los nanómetros. Este perfilómetro óptico se caracteriza por su diseño compacto con electrónica integrada e impresiona por su facilidad de uso, por ejemplo, mediante la función automática Focus Finder para mediciones rápidas y eficaces en entornos de producción y laboratorios de ensayo. + Análisis topográfico completo en área y 3D de rugosidades y texturas y microestructuras + Sistema perfilador compacto para el análisis de detalles superficiales + Gran rango de medición vertical de 100 mm con tecnología de escaneo continuo CST + Excelente resolución lateral + Medición con resolución subnanométrica en Z + NUEVO: Opciones de lentes ampliadas 0,6X ... 111X disponibles Póngase en contacto con nosotros para demostraciones, estudios de viabilidad en sus muestras específicas y más información.