Perfilómetro para medición de la rugosidad superficial Micro.View

óptico3Dinterferométrico

Resumen
Perfilómetro óptico 3D compacto (plataforma Micro.View) para medición de rugosidad y topografía de superficie sin contacto. Diseñado como una solución de entrada para sustituir sistemas de palpador, ofrece evaluaciones de rugosidad areal y de perfil para superficies mate a muy reflectantes.

Puntos destacados

• Evaluación de rugosidad conforme a ISO: parámetros R (perfil) y S (areal)
• Diseño compacto de sobremesa para laboratorios y control de calidad
• Etapa XY motorizada opcional (recorrido 75 mm en la versión Advanced)
• Opciones de actualización y trade-in disponibles

Ventajas clave

• Medición areal 3D completa (Sa, Sq, Sz, etc.) junto a parámetros de perfil 2D (Ra, Rz…)
• Medición óptica sin contacto que evita daños y captura la topografía completa
• Tecnologías de escaneo integradas (evaluación de correlograma y SST/CST) para escaneos fiables en materiales reflectantes, oscuros, de bajo contraste o transparentes
• Resolución vertical sub-nanométrica y bajo ruido de medida

Aplicaciones / Casos de uso típicos

• Sustitución o actualización desde palpadores hacia perfilómetros ópticos para un análisis más completo de la textura superficial
• Laboratorios de control de calidad que requieren conformidad con normas areales (ISO 25178)
• Medición de superficies sensibles o blandas sin dañarlas
• Detección temprana de problemas funcionales de superficie mediante datos areales
• Mediciones de área más rápidas para producción e I+D

Configuraciones del producto y características

• Entregado en configuraciones Roughness Tester predefinidas basadas en la plataforma Micro.View para optimizar precio de entrada vs. rendimiento
• Cabezal sensor con capacidad de resolución vertical sub-nm y cambiador de objetivos de 5 posiciones
• Base compacta con aislamiento antivibraciones integrado
• Objetivo estándar 10× incluido; objetivos adicionales opcionales
• Software para evaluación de rugosidad según normas (ISO 25178, ISO 4287, ISO 4288, ISO 21920, ASME B46.1)

Opciones — Basic vs Advanced

• Versión Basic: Perfilómetro económico para componentes estándar y comprobaciones simples de rugosidad. Etapa de alineación tip/tilt manual integrada.
• Versión Advanced: Recomendado para muestras de tamaño medio y necesidades de automatización. Incluye etapa XY motorizada de 75 mm (x e y) y tip/tilt manual. Permite alineación reproducible y True Stitching para ampliar la zona de medición.

Especificaciones
Rendimiento topográfico — Rango vertical (posicionamiento y medición): 100 mm
Ruido de medida: < 0.6 nm
Repetibilidad: < 0.2 nm
Medición — Reflectividad de la muestra: 0.05 a 100 %
Área de medición (con objetivo 10×): 0.79 mm × 0.58 mm
Área máxima con True Stitching (10×): 171 mm²
Espaciado de puntos (10×): 0.59 µm
Puntos de datos: 1.352.000 (píxeles efectivos)
Posicionamiento de muestras — Tamaño de la mesa: 140 mm × 140 mm
Etapa XY: Basic: Ninguna; Advanced: recorrido motorizado 75 mm (x e y)
Etapa tip/tilt: Manual
Software — Parámetros de evaluación según normas: ISO 25178, ISO 4287, ISO 13565, ISO 21920, ASME B46.1
Automatización: Recetas de medición y evaluación; True Stitching (con etapa XY motorizada)

Descargas y recursos adicionales
Ficha técnica y whitepapers disponibles en la página del producto (títulos de archivos referenciados en el sitio).