El sistema de detección por TC de alta precisión de sobremesa SE-CT2000 representa una solución avanzada de exploración por rayos X meticulosamente elaborada para aplicaciones industriales precisas.
Este sistema cuenta con un diseño de inspección de alta precisión de 2μm, aprovechando la potencia de una robusta fuente de rayos X con una formidable capacidad de penetración.
El sistema SE-CT2000 de detección por TC de alta precisión de sobremesa representa una solución avanzada de exploración por rayos X meticulosamente elaborada para aplicaciones industriales precisas. Este sistema cuenta con un diseño de inspección de alta precisión de 2μm, aprovechando la potencia de una robusta fuente de rayos X con una formidable capacidad de penetración.
Sus principales aplicaciones abarcan la inspección de piezas electrónicas, el análisis de fallos y el diseño inverso en la fabricación de productos, garantizando imágenes precisas y detalladas para un mayor control de calidad y fines de diagnóstico.
Fuente de rayos X
- Tipo de fuente Abierto
- Tensión de trabajo: 225kV
- Detectabilidad: 2μm
- Resolución espacial: 4 μm
ESPECIFICACIONES GENERALES
- Máx. Área de carga: 520mm×650mm
- Peso máx. Peso de carga: 30kg
- Tamaño de píxel: 139μm
- Número de píxeles: 3072×3072
- Área de imagen: 427mm×427mm
- Dimensiones: 2460mm×1485mm×2085mm
- Peso total: Alrededor de 5500kg
- Software:Previsualización 2D y reconstrucción 3D Software de medición espacial y análisis de control de máquinas (opcional)
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