Sistema de inspección CT SE-CT2000

3D2Dde barrido

El sistema de detección por TC de alta precisión de sobremesa SE-CT2000 representa una solución avanzada de exploración por rayos X meticulosamente elaborada para aplicaciones industriales precisas. Este sistema cuenta con un diseño de inspección de alta precisión de 2μm, aprovechando la potencia de una robusta fuente de rayos X con una formidable capacidad de penetración. El sistema SE-CT2000 de detección por TC de alta precisión de sobremesa representa una solución avanzada de exploración por rayos X meticulosamente elaborada para aplicaciones industriales precisas. Este sistema cuenta con un diseño de inspección de alta precisión de 2μm, aprovechando la potencia de una robusta fuente de rayos X con una formidable capacidad de penetración. Sus principales aplicaciones abarcan la inspección de piezas electrónicas, el análisis de fallos y el diseño inverso en la fabricación de productos, garantizando imágenes precisas y detalladas para un mayor control de calidad y fines de diagnóstico. Fuente de rayos X - Tipo de fuente Abierto - Tensión de trabajo: 225kV - Detectabilidad: 2μm - Resolución espacial: 4 μm ESPECIFICACIONES GENERALES - Máx. Área de carga: 520mm×650mm - Peso máx. Peso de carga: 30kg - Tamaño de píxel: 139μm - Número de píxeles: 3072×3072 - Área de imagen: 427mm×427mm - Dimensiones: 2460mm×1485mm×2085mm - Peso total: Alrededor de 5500kg - Software:Previsualización 2D y reconstrucción 3D Software de medición espacial y análisis de control de máquinas (opcional)