Sistema de prueba para ciclo de calor SM-ZOV665-W5K

de seguridad funcionalde envejecimientode funcionamiento

Sistema de pruebas dinámicas de quemado de circuitos integrados y HTOL de una sola puerta de SANWOOD El modelo SM-ZOV665-W5K de SANWOOD combina una cámara con control de temperatura con patrones de prueba eléctricos programables para realizar pruebas dinámicas de quemado y de vida útil a alta temperatura (HTOL). Pone a prueba circuitos integrados alimentados en placas de quemado (BIB) a temperaturas elevadas, lo que permite a los ingenieros supervisar el comportamiento de los dispositivos durante el estrés térmico y eléctrico. Características principales Vectores de prueba programables para poner a prueba la lógica y la memoria de los circuitos integrados durante el quemado Aislamiento de alimentación a nivel de ranura y límites de corriente programables Registro de tensión, corriente y temperatura por ranura para el análisis de fallos Especificaciones técnicas Modelo: SM-ZOV665-W5K, configuración de una sola puerta Rango de temperatura de la cámara: de la temperatura ambiente a 10 °C hasta 150 °C Capacidad de placas de quemado: 16 ranuras Tamaño de las placas de quemado: 450 × 570 mm Canales de señal: 184 en total, con 160 canales de controlador comunes y 24 canales de E/S Frecuencia máxima de repetición del sistema: 20 MHz Memoria vectorial: 64 M palabras Capacidad del registro de errores: 2 K por E/S Fuente de alimentación de dispositivos: 8 canales por BIB en la configuración predeterminada Dimensiones internas (An × Al × Pr): 800 × 1.320 × 630 mm Dimensiones externas (An × Al × Pr): 1.920 × 2.287 × 1.600 mm Personalización Las dimensiones interiores de la cámara y las configuraciones de los bastidores de prueba se pueden personalizar para adaptarse a las dimensiones de su BIB, al espaciado entre placas y a los requisitos de carga. Aplicaciones y referencias de ensayo Adecuado para la selección mediante burn-in y la evaluación de la vida útil de SoC para automoción, microcontroladores, aceleradores de IA, circuitos integrados de memoria y circuitos integrados de gestión de energía. En función del dispositivo y del plan de pruebas, entre las referencias pertinentes se incluyen la norma JEDEC JESD22-A108 para HTOL, la prueba AEC-Q100 B1 para HTOL de circuitos integrados de automoción y el método 1015 de la norma MIL-STD-883 para el burn-in de microcircuitos. Para obtener una propuesta de configuración, indíquenos el tipo de dispositivo, los planos BIB, la carga eléctrica y el perfil de prueba requerido. Página del producto — https://www.sanwood.us/products/189.html Correo electrónico — info@sanwood.com