Sistema de prueba para ciclo de calor SM-ZOV665-W5(10)K

de seguridad funcionalde envejecimientode funcionamiento

Sistema de pruebas dinámicas de quemado de circuitos integrados y de vida útil a alta temperatura (HTOL) de doble puerta de SANWOOD El modelo SANWOOD SM-ZOV665-W5(10)K combina dos cámaras calefactadas con patrones de prueba eléctricos programables para realizar pruebas paralelas de quemado dinámico y de vida útil a alta temperatura (HTOL). Cada cámara tiene capacidad para 16 placas de quemado (BIB) montadas horizontalmente, lo que suma un total de 32 ranuras para placas. Características principales Los vectores de prueba programables someten a prueba los circuitos integrados alimentados a temperaturas elevadas. El aislamiento a nivel de ranura y la protección contra sobrecorriente ayudan a contener los fallos durante las pruebas en paralelo. El flujo de aire horizontal a través de los bastidores de placas ayuda a distribuir el calor bajo cargas activadas. Especificaciones técnicas Modelo: SM-ZOV665-W5(10)K, configuración de doble puerta Rango de temperatura de la cámara: de la temperatura ambiente ±10 °C a ±150 °C Capacidad de BIB: 32 ranuras en total, 16 por cámara Tamaño de los BIB: 450 × 570 mm Canales de señal: 184 en total, compuestos por 160 canales de control comunes y 24 canales de E/S Frecuencia de repetición máxima del sistema: 20 MHz Memoria vectorial: 64 millones de palabras Capacidad del registro de errores: 2K por E/S Fuente de alimentación de los dispositivos: 8 canales por BIB en la configuración predeterminada Dimensiones internas por cámara (An. × Al. × Pr.): 800 × 1.320 × 630 mm Dimensiones totales (An × Al × Pr): 3.160 × 2.470 × 1.600 mm Personalización Las dimensiones interiores de la cámara y las configuraciones de los bastidores de prueba se pueden personalizar para adaptarse al tamaño de sus placas, al espaciado entre ellas y a sus requisitos de carga. Aplicaciones y referencias de ensayo Diseñado para ensayos de fiabilidad en paralelo de SoC para automoción, microcontroladores, aceleradores de IA, circuitos integrados de memoria y circuitos integrados de gestión de energía. En función del dispositivo y del plan de pruebas, entre las referencias pertinentes se incluyen la norma JEDEC JESD22-A108 para HTOL, la prueba AEC-Q100 B1 para HTOL de circuitos integrados de automoción y el método 1015 de la norma MIL-STD-883 para el burn-in de microcircuitos. Para obtener una propuesta de configuración, facilítenos el tipo de dispositivo, los planos BIB, el rendimiento objetivo, la carga térmica con alimentación y el perfil de prueba. Página del producto — https://www.sanwood.us/products/188.html Correo electrónico — [email protected]