Espectrómetro de fotoelectrones emitidos por rayos X XPS

de laboratoriopara el tratamiento de superficiepara espectroscopia

Descripción general
La espectroscopía de fotoelectrones por rayos X (XPS), también conocida como ESCA, es una técnica consolidada de análisis de superficies para la caracterización de materiales. XPS proporciona información cuantitativa sobre elementos y estados químicos en los aproximadamente 10 nm superficiales de un material. El espectrómetro de fotoelectrones Kratos AXIS Nova puede recolectar espectros e imágenes XPS de materiales estables en las condiciones de ultraalto vacío requeridas por la técnica.

Rendimiento
Diseñado para un uso eficiente en laboratorio y producción, el AXIS Nova incorpora carga automática de muestras, cámaras ortogonales para un posicionamiento rápido y software de adquisición intuitivo. La platina de muestra de 110 mm de diámetro permite el manejo de muestras de gran tamaño y un alto rendimiento sin comprometer la sensibilidad espectroscópica, la resolución energética ni la resolución espacial de imagen.

Características

• Sensitivity — Recolección eficiente de fotoelectrones para alta sensibilidad en modos de espectroscopía e imagen XPS.
• Resolution — Excelente resolución energética para medir con precisión pequeños desplazamientos químicos.
• Simplicity — Utiliza el software ESCApe para adquisición, procesamiento e informes, garantizando flujos de trabajo coherentes entre los equipos Kratos.
• Parallel XPS imaging — Permite mapear la distribución elemental y química en la superficie.
• Automation — Manejo automatizado de muestras y flujos de trabajo predefinidos para aumentar el rendimiento y la repetibilidad.
• Additional capabilities — Sistema ampliable: opción de lámpara UV He‑discharge para UPS (banda de valencia y trabajo de función) y módulos analíticos adicionales.

Aplicaciones (seleccionadas)

• Recubrimientos y películas delgadas
• Polímeros y tratamientos superficiales
• Perfilado por sputtering con racimos de gas Arn+ de polímeros plasma reticulados
• Análisis de stents poliméricos recubiertos con fármacos
• Sistemas combinatorios de películas delgadas — análisis por matriz

Especificaciones técnicas

• Técnica: espectroscopía de fotoelectrones por rayos X (XPS) / ESCA
• Profundidad de análisis: información desde los ~10 nm superiores de la superficie
• Diámetro de la platina: 110 mm (manejo de muestras grandes)
• Manejo de muestras: carga automática de muestras
• Posicionamiento: cámaras ortogonales para un alineamiento sencillo
• Imágenes: imagen XPS paralela con alta resolución espacial
• Sensibilidad y resolución: alta sensibilidad y excelente resolución energética
• Software: ESCApe para adquisición, procesamiento e informes
• Opciones: lámpara UV He‑discharge para UPS (banda de valencia y trabajo de función)