Máquina de prueba temperatura HS-LDTS2000

de calidadde funcionamientoautomática

HS-LDTS2000 es un probador de rendimiento optoelectrónico para chips LD diseñado para entornos de producción para evaluar chips láser de longitud de onda larga bajo condiciones controladas de temperatura ambiente y alta. Integra manejo automatizado e imagen inteligente para soportar control de calidad de alto rendimiento.

Funciones principales

• Flujo de trabajo automático de manipulación y prueba
• Inspección de apariencia AOI y reconocimiento OCR de caracteres en caras frontales y de extremo
• Alta capacidad de prueba por unidad de tiempo

Áreas de aplicación

• Fotónica
• Dispositivos de potencia
• Dispositivos RF de microondas
• Sector de vehículos de nueva energía

Ventajas

• Banco de control de temperatura desarrollado internamente con regulación de alta precisión adecuado para pruebas en temperatura ambiente y alta
• Sistema de visión de alta precisión con soporte de re-inspección para garantizar la estabilidad del producto
• Compatibilidad de alimentación — compatible con 2" GEL-PAK y anillo de oblea de 6"
• Plato giratorio con puestos de trabajo separados y operación sincronizada para aumentar el rendimiento

Características / Especificaciones técnicas

• Capacidad de ensayo: parámetros LIV y parámetros espectrales de la iluminación frontal y trasera de chips láser de larga longitud de onda en condiciones ambiente y alta temperatura
• Métodos / proceso de prueba: ensayo de rendimiento fotoeléctrico de chips LD (características fotoeléctricas y medición espectral)
• Ámbito del producto: chips LD
• Rango de tamaño de chip: mínimo 0.15 x 0.2 mm; máximo 10.0 x 10.0 mm
• Eficiencia del equipo: aproximadamente 4.5–6 S/PCS (dependiendo de la aplicación de prueba específica)