El IP750Ex-HD ofrece capacidad de prueba de sensores de imagen para dispositivos actuales y futuros, proporcionando el costo de prueba más bajo.
- Sistema de prueba avanzado para sensores de imagen diseñado para dispositivos actuales y de próxima generación.
- Optimizado para alto rendimiento y bajo costo de prueba.
- Soporta una amplia gama de tecnologías y configuraciones de sensores de imagen.
- Arquitectura flexible para adaptarse a los requisitos cambiantes de los dispositivos.
- Diseñado para la fiabilidad y escalabilidad en entornos de producción.
Ventajas y Configuraciones:
- Electrónica de pines de alta densidad para pruebas en paralelo.
- Recursos de prueba configurables para satisfacer las necesidades del dispositivo.
- Herramientas de software completas para el desarrollo de pruebas y análisis de datos.
- Integración perfecta con sistemas de manejo automatizados.
Aplicaciones Típicas:
- Pruebas de sensores de imagen CMOS y CCD.
- Aseguramiento de calidad para dispositivos de imagen automotriz, móvil e industrial.
- Entornos de prueba de producción e ingeniería.
Características Clave:
- Alto paralelismo para aumentar el rendimiento.
- Bajo costo de propiedad y operación.
- Plataforma a prueba de futuro que soporta nuevas tecnologías de sensores.
Especificaciones Técnicas / Características:
- Electrónica de pines de alta densidad
- Recursos de prueba configurables
- Suite de software completa
- Integración con automatización
- Soporte para sensores CMOS y CCD
- Arquitectura escalable