Plataforma de test para semiconductor J750Ex-HD

El J750 de Teradyne es el estándar de la industria para pruebas de alto volumen de dispositivos de bajo costo y tiene una base instalada de más de 6,000 sistemas de prueba. - Plataforma de pruebas de alto volumen para dispositivos sensibles al costo - Base instalada de más de 6,000 sistemas en todo el mundo - Diseñado para probar una amplia gama de dispositivos semiconductores - Soporta requisitos de prueba digitales, de señal mixta y analógicos - Arquitectura escalable para necesidades de prueba en evolución - Rendimiento y fiabilidad líderes en la industria Características clave: - Alta capacidad de prueba paralela - Opciones de configuración flexibles - Cobertura de prueba integral para varios tipos de dispositivos - Rendimiento probado en entornos de producción Aplicaciones típicas: - Electrónica de consumo - Electrónica automotriz - Dispositivos industriales e IoT - CI de comunicación Especificaciones técnicas / Características: - Plataforma: J750Ex-HD Family - Tipos de prueba: Digital, Señal Mixta, Analógica - Base instalada: 6,000+ sistemas - Objetivo: Pruebas de dispositivos de bajo costo y alto volumen - Escalabilidad: Modular, soporta requisitos en evolución