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Sistema de medición momento magnético DXV-9000
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Sistema de medición momento magnético - DXV-9000 - Xiamen Dexing Magnet Tech. Co., Ltd. - magnético / automatizado / para semiconductor
Sistema de medición momento magnético - DXV-9000 - Xiamen Dexing Magnet Tech. Co., Ltd. - magnético / automatizado / para semiconductor
Sistema de medición momento magnético - DXV-9000 - Xiamen Dexing Magnet Tech. Co., Ltd. - magnético / automatizado / para semiconductor - imagen - 2
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Características

Magnitud física
momento magnético
Tecnología
magnético
Modo de funcionamiento
automatizado
Objeto de la medición
para semiconductor

Descripción

Descripción general

La serie DXV-9000 de magnetómetros de muestra vibrante (VSM) está diseñada para mediciones precisas de momento magnético, histeresis y dependencias con la temperatura en una amplia variedad de muestras. El sistema incorpora una cabeza vibratoria eléctrica de rotación continua 360°, adquisición de datos rápida y módulos opcionales de alta y baja temperatura para ensayos de Curie y transición superconductora.

Funciones y características
  • Medición de curvas de histeresis magnética (M-H) para obtener fuerza coercitiva, magnetización remanente, magnetización de saturación y momento magnético.
  • Medición de curvas M-T con opción de baja temperatura para transición superconductora y opción de alta temperatura para determinación de punto de Curie.
  • Cabezal vibratorio con rotación eléctrica continua de 360° para estudios de anisotropía.
  • Muestra ubicada en el centro de la bobina de captación y del campo para mediciones anisotrópicas mejoradas respecto a configuraciones con imán superconductivo.
  • Ajuste del entrehierro de polos y sistema de elevación eléctrico para centrado vertical automático, mejorando repetibilidad y precisión del centrado.
  • Adquisición de alta velocidad: muestreo continuo hasta 10 ms/punto; soporta tasas de cambio de campo hasta 5000 Oe/s y adquisición de una curva de histeresis en ~14 s; compatible con pruebas FORC.
  • Control de vibración en lazo cerrado con sensor láser de desplazamiento que detecta variaciones de amplitud ~1 μm y estabilidad de amplitud a largo plazo (ej.: 4 μm en 24 h a 8 mm).
  • Dispositivo integrado de reemplazo/alineación que reduce el riesgo de rotura de varillas de muestra y asegura vibración vertical sin colisiones; soporta pruebas de momento vectorial con opciones de temperatura.
  • Conductor eléctrico de polo de muestra patentado para introducir campo eléctrico durante la medición y bobina de recolección integrada con sonda Gauss para conexiones compactas y fiables.
  • Diseño de reemplazo de muestra con una sola mano y prueba por una tecla mediante software con interfaz HMI amigable.
  • Tipos de muestras aplicables: diamagnéticas, paramagnéticas, ferromagnéticas, ferrimagnéticas, antiferromagnéticas y materiales anisótropos; materiales magnéticos particulados y continuos; GMR, CMR, materiales con sesgo por intercambio y spin-valve; materiales magneto-ópticos; sólidos, polvos, películas delgadas, monocristales y líquidos.


Configuraciones

  • Electroimán de entrehierro variable (p. ej. DXSB-130 para DXV-9005; DXSB-178 para DXV-9007)
  • Fuente bipolar para electroimán (p. ej. DXEP-7050 / DXEP-9060)
  • Amplificador lock-in para adquisición de datos
  • Cabezal vibratorio y soporte
  • Varillas, soportes y accesorios para muestras de bloque, polvo, película y líquido
  • Muestra de calibración (estándar de momento)
  • Ordenador con software del sistema
  • Enfriador para electroimán y fuente (RG0309)
  • Sistema de alta temperatura (RT-873K)
  • Sistema de baja temperatura (~80 K–350 K) — variantes indicadas en desarrollo en algunas páginas


Opciones de temperatura

  • Baja temperatura: ~80 K a 370 K (entorno con nitrógeno en flujo; resolución ~0.001 K; estabilidad ±0.1 K).
  • Alta temperatura: ~350 K a 1050 K (argón estático o equivalente; resolución/precisión típica según opción: ±0.1 K a ±1 K).


Especificaciones técnicas

  • Ruido de momento: ej. a temperatura ambiente @3.5 mm: 0.1 s/pt (RMS) = 150 μemu, 0.1 s/pt (P-P) = 800 μemu; 1 s/pt (RMS) = 80 μemu; 10 s/pt (RMS) = 35 μemu. Piso de ruido declarado ≈ 4×10⁻⁸ emu (10 s/pt).
  • Rango de medida: ~35×10⁻9 a 10³ emu.
  • Estabilidad: ±0.05% de la escala completa/día tras equilibrio térmico (separación de bobina fija).
  • Repetibilidad: ±0.5% (pruebas de carga/descarga).
  • Precisión: ±1% (comparación con muestra patrón NIST 772a).
  • Masa máxima de muestra: 0–10 g (las masas mayores reducen amplitud y SNR).
  • Intervalo/modo de adquisición: 0.01–10 s (modo continuo hasta 10 ms); constante de tiempo lock-in 100 ms; filtro pasa-bajo 24 dB/oct; amplitud de vibración 2–8 mm; frecuencia 55–85 Hz.
  • Campo magnético: ejemplos DXV-9005/DXV-9007 — entrehierros pequeños producen campos pico hasta ~2.7–3.0 T según entrehierro y material de polos (opción Fe-Co ligeramente superior).
  • Precisión de campo ~1%; resolución de campo 1 mOe; precisión de elevación 0.1 mm; recorrido de elevación 0–300 mm.
  • Rotación: 360° continuo con precisión angular ~0.01°; repetibilidad ~100 mOe.
  • Tasa de cambio de campo soportada hasta 5000 Oe/s.
  • Soportes/varillas para bloques, polvos, películas (in-plane/out-of-plane) y líquidos; ex. dimensiones: bloque Φ4×10 mm; películas p. ej. 10×6.4 mm; líquidos Φ2.5×10 mm. Varillas para alta T en cuarzo; para baja T en fibra de carbono.
  • Entornos del sistema de temperatura: baja T con nitrógeno en flujo; alta T con argón estático o vacío/aislamiento multicapa según configuración.

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