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Microscopio SEM ZEISS SIGMApara análisiscon cámara digital
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Características
- Tipo
- SEM
- Aplicaciones técnicas
- para análisis
- Otras características
- con cámara digital
Descripción
El SIGMA FE-SEM (Field Emission Scanning Electron Microscopes) es una serie de microscopios avanzados utilizados en la detección de electrones.
Viene con un software de navegación de imágenes que se incorpora a SmartSEM. Está diseñado a partir de la columna GEMINI, lo que le confiere una estabilidad de imagen de bajo voltaje. El montaje de detectores EDS dobles en su cámara aumentará su funcionalidad.
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