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Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... ventana con un ángulo sólido de hasta 0,7 sr para realizar análisis elementales de alta resolución tanto en modo SEM como STEM. Características del producto: - Combinación SEM-STEM con señal SEM filtrada ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,6 nm
... campo de desaceleración sobre la muestra - desde 100V (opción 10V) hasta 30kV de tensión de aceleración. Es posible realizar análisis EDX e imágenes de alta resolución con todos los detectores a una distancia de trabajo de 6 mm - Funciones ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,7, 0,6 nm
... El SU8600 es el sucesor de la acreditada familia de SEM de emisión de campo Regulus y cumple los requisitos más exigentes para aplicaciones orientadas a la obtención de imágenes. El emisor de campo frío con su emisión casi monocromática, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,8 nm
... El SU7000 es ideal para muestras grandes o pesadas y para integrar una amplia gama de accesorios. Estos accesorios incluyen detectores analíticos o accesorios de platina para la manipulación de muestras in situ (estiramiento [tracción] / compresión, calentamiento/enfriamiento, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm
... en color de las placas de muestra cubren toda el área de muestra observable por SEM - Funcionamiento despreocupado: las colisiones entre la platina y los componentes del SEM quedan prácticamente eliminadas gracias a ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 6 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 4, 15 nm
... FlexSEM II es un SEM de sobremesa/compacto para tareas de captura de imágenes que van más allá del rendimiento de los SEM de sobremesa convencionales. Es el sistema ideal para cualquiera que no quiera invertir en un SEM ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 10 unit - 250.000 unit
... Diseñado como una extensión lógica de la microscopía óptica estereoscópica, el TM4000 III es un dispositivo básico para la microscopía electrónica de barrido. Permite obtener imágenes de muestras en el menor tiempo posible ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 1 unit - 330 unit
Resolución espacial: 10 nm
... automático de la posición de medida y
análisis automático mediante el programa estándar de
análisis de contaminantes, lo que permite a principiantes y especialistas realizar
análisis fiables.
Además ...
Shimadzu France
... adquisición y análisis adaptados a estudios de imagen MS.
Características
- Análisis
Shimadzu France
... El nuevo microscopio metalúrgico invertido MEC4 de UNITRON está diseñado para el examen y análisis de muestras metalúrgicas y material preparado para las industrias automovilística, aeroespacial, de dispositivos médicos ...
Unitron
... El Versamet 4 es un nuevo microscopio metalúrgico invertido diseñado para admitir diversos métodos de observación, como campo claro, campo claro/campo oscuro, luz polarizada y DIC. Este microscopio versátil y configurable ...
Unitron
... El EXAMET-5 es un nuevo microscopio metalúrgico industrial diseñado para campo claro, aplicaciones de ciencia de materiales, fabricación de metales, metalurgia, tejidos/textiles, obleas, optoelectrónica, materiales compuestos y microelectrónica. La ...
Unitron
Aumento: 0 unit - 4 unit
... Ciencia Forense con la introducción de su nuevo Microscopio Serie CFM. Con la asistencia en el diseño de organizaciones policiales, científicos forenses y educadores en el campo de la ciencia forense, el microscopio de ...
Unitron
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