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Microscopios para la industria electrónica
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microscopio electrónico de barridoVerios 5 XHR
Resolución espacial: 0,7, 1, 0,6 nm
... Caracterización por microscopía electrónica de barrido de nanomateriales con resolución subnanométrica y alto contraste del material. Microscopio electrónico de barrido Verios 5 XHR El ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Aumento: 6 unit - 2.500.000 unit
Resolución espacial: 1, 1,3, 3, 0,8 nm
Ancho: 340 mm
... cualquier SEM de Thermo Scientific e incluye tres modos de vacío que admiten la desgasificación y las muestras no compatibles con el vacío. Ofrece resultados de alta resolución gracias a un cañón de emisión de campo (FEG) exclusivo de ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolución espacial: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Peso: 5 kg
Ancho: 340 mm
... estas tecnologías significa que los usuarios que se inician en la microscopía electrónica pueden acceder al rendimiento de alta gama del SEM Apreo 2. Además, el Apreo 2 SEM es el único ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
... de una mayor eficiencia y comodidad en sus rutinas diarias al microscopio. El microscopio de materiales Visoria M se destina a aplicaciones realizadas en las industrias del metal, electrónica ...
... herramientas de reconstrucción avanzada para un rendimiento aún más rápido con excelente calidad de imagen Convertible a microscopio (XRM) Xradia Versa A medida que evolucionan sus necesidades de captura de imágenes, también ...
microscopio electrónico de barridoSU3800/3900 Family
Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm
... en color de las placas de muestra cubren toda el área de muestra observable por SEM - Funcionamiento despreocupado: las colisiones entre la platina y los componentes del SEM quedan prácticamente eliminadas gracias a ...
Aumento: 1 unit - 330 unit
Resolución espacial: 10 nm
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Características principales
- Cámara de campo amplio más cámara de microscopio IR para áreas de observación de hasta 10 × 13 mm.
- Zoom digital 330× que permite observar áreas tan pequeñas como
Aumento: 50 unit
Peso: 45 kg
... Nikon son una gama de microscopios de semiconductores ideales para la inspección de circuitos integrados (IC), pantallas planas (FPD), dispositivos electrónicos de integración a gran escala (LSI) y muchas más aplicaciones. Microscopios ...
Nikon Metrology
Aumento: 32, 50, 6, 10 unit
... Sistema de microscopio digital compacto Full HD para una inspección rápida y precisa justo donde la necesita. La óptica de alta calidad hecha a medida y las características digitales se combinan para ...
Vision Engineering Ltd.
Aumento: 10 unit - 220 unit
Resolución espacial: 650 nm
Peso: 137 g
... modelo es ideal cuando se trabaja con objetos brillantes o reflectantes, como metal, plástico, cristal, joyas, componentes electrónicos, etc. Las principales características del AM7915MZT son: • Sensor Edge de 5 megapíxeles • Extended ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Aumento: 5 unit - 50 unit
Peso: 105 g
Largo: 10,5 cm
... visión macro con un campo de visualización más extenso y una función de zoom para revelar los detalles más pequeños. Con el microscopio se suministran tapas diferentes, convirtiendo a Dino-Lite Edge en la elección perfecta para cualquier ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Aumento: 20 unit - 220 unit
Resolución espacial: 650 nm
Peso: 135 g
... modelo es ideal cuando se trabaja con objetos brillantes o reflectantes, como metal, plástico, cristal, joyas, componentes electrónicos, etc. Las principales características del AM7115MZT son: • Sensor Edge de 5 megapíxeles • Aumento ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Aumento: 20 unit - 150 unit
... manualmente entre los ángulos de visión 2D y 3D. ● Puede ser ampliamente utilizado en campos como la microelectrónica, electrónica de precisión, detección de juntas de soldadura SMS, moldes de hardware de precisión, investigación criminal ...
Mikrosize
... integrados en la industria electrónica, la agricultura y la enseñanza de la electrónica y la industria de instrumentación para la inspección de piezas de precisión fina, montaje, reparación. ...
Ningbo Huaguang Precision Instrument Co., Ltd.
microscopio electrónico de barridoSEM3200
Aumento: 300.000 unit
Resolución espacial: 4, 7, 3 nm
Peso: 480 kg
... CIQTEK SEM3200 es un microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno de alto rendimiento. Tiene excelentes capacidades de calidad de imagen tanto en modo de alto como de bajo vacío. También tiene una gran ...
CIQTEK Co., Ltd.
Peso: 8,5, 9,5, 10,1, 9,1 kg
Largo: 467 mm
Ancho: 192 mm
... Su microscopio de materiales con luz reflejada y transmitida, además de imagen inalámbrica opcional. Primotech es su solución inteligente de captura de imágenes con una atractiva relación calidad-precio. Acceda a varios microscopios ...
microscopio de fuerza atómica
Resolución espacial: 0,02 µm
... Resumen del producto
El
microscopio de fuerza atómica (AFM a nivel wafer) es un instrumento de sonda de barrido de alta resolución diseñado para caracterizar la morfología superficial tridimensional y las propiedades multifuncionales ...
Aumento: 2 unit - 73 unit
Peso: 5 kg
... Aplicaciones: de uso universal para tareas de inspección, reparación y comprobación inspección de placas de circuitos impresos combinable con mesas de inspección y etapas de rótula para un posicionamiento exacto documentación ...
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