Microscopios para la industria electrónica

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microscopio electrónico de barrido
microscopio electrónico de barrido
Verios 5 XHR

Resolución espacial: 0,7, 1, 0,6 nm

... Caracterización por microscopía electrónica de barrido de nanomateriales con resolución subnanométrica y alto contraste del material. Microscopio electrónico de barrido Verios 5 XHR El ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio SEM
microscopio SEM
Quattro ESEM

Aumento: 6 unit - 2.500.000 unit
Resolución espacial: 1, 1,3, 3, 0,8 nm
Ancho: 340 mm

... cualquier SEM de Thermo Scientific e incluye tres modos de vacío que admiten la desgasificación y las muestras no compatibles con el vacío. Ofrece resultados de alta resolución gracias a un cañón de emisión de campo (FEG) exclusivo de ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio SEM
microscopio SEM
Apreo 2

Resolución espacial: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Peso: 5 kg
Ancho: 340 mm

... estas tecnologías significa que los usuarios que se inician en la microscopía electrónica pueden acceder al rendimiento de alta gama del SEM Apreo 2. Además, el Apreo 2 SEM es el único ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio para materiales
microscopio para materiales
Visoria M

... de una mayor eficiencia y comodidad en sus rutinas diarias al microscopio. El microscopio de materiales Visoria M se destina a aplicaciones realizadas en las industrias del metal, electrónica ...

microscopio de rayos X
microscopio de rayos X
ZEISS XRADIA Context microCT

... herramientas de reconstrucción avanzada para un rendimiento aún más rápido con excelente calidad de imagen Convertible a microscopio (XRM) Xradia Versa A medida que evolucionan sus necesidades de captura de imágenes, también ...

microscopio electrónico de barrido
microscopio electrónico de barrido
SU3800/3900 Family

Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm

... en color de las placas de muestra cubren toda el área de muestra observable por SEM - Funcionamiento despreocupado: las colisiones entre la platina y los componentes del SEM quedan prácticamente eliminadas gracias a ...

microscopio FTIR
microscopio FTIR
AIMsight

Aumento: 1 unit - 330 unit
Resolución espacial: 10 nm

... br> Características principales

  • Cámara de campo amplio más cámara de microscopio IR para áreas de observación de hasta 10 × 13 mm.
  • Zoom digital 330× que permite observar áreas tan pequeñas como
...

microscopio electrónico
microscopio electrónico
ECLIPSE L300N

Aumento: 50 unit
Peso: 45 kg

... Nikon son una gama de microscopios de semiconductores ideales para la inspección de circuitos integrados (IC), pantallas planas (FPD), dispositivos electrónicos de integración a gran escala (LSI) y muchas más aplicaciones. Microscopios ...

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Nikon Metrology
microscopio digital
microscopio digital
VE CAM series

Aumento: 32, 50, 6, 10 unit

... Sistema de microscopio digital compacto Full HD para una inspección rápida y precisa justo donde la necesita. La óptica de alta calidad hecha a medida y las características digitales se combinan para ...

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Vision Engineering Ltd.
microscopio optodigital
microscopio optodigital
AM7915MZT

Aumento: 10 unit - 220 unit
Resolución espacial: 650 nm
Peso: 137 g

... modelo es ideal cuando se trabaja con objetos brillantes o reflectantes, como metal, plástico, cristal, joyas, componentes electrónicos, etc. Las principales características del AM7915MZT son: • Sensor Edge de 5 megapíxeles • Extended ...

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Dino-Lite Europe/IDCP BV
microscopio optodigital
microscopio optodigital
AM4115ZTW

Aumento: 5 unit - 50 unit
Peso: 105 g
Largo: 10,5 cm

... visión macro con un campo de visualización más extenso y una función de zoom para revelar los detalles más pequeños. Con el microscopio se suministran tapas diferentes, convirtiendo a Dino-Lite Edge en la elección perfecta para cualquier ...

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Dino-Lite Europe/IDCP BV
microscopio infrarrojo
microscopio infrarrojo
AM7115MZT

Aumento: 20 unit - 220 unit
Resolución espacial: 650 nm
Peso: 135 g

... modelo es ideal cuando se trabaja con objetos brillantes o reflectantes, como metal, plástico, cristal, joyas, componentes electrónicos, etc. Las principales características del AM7115MZT son: • Sensor Edge de 5 megapíxeles • Aumento ...

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Dino-Lite Europe/IDCP BV
microscopio con control manual
microscopio con control manual
iVideo-6050

Aumento: 20 unit - 150 unit

... manualmente entre los ángulos de visión 2D y 3D. ● Puede ser ampliamente utilizado en campos como la microelectrónica, electrónica de precisión, detección de juntas de soldadura SMS, moldes de hardware de precisión, investigación criminal ...

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Mikrosize
microscopio óptico
microscopio óptico
ZTX-S series

... integrados en la industria electrónica, la agricultura y la enseñanza de la electrónica y la industria de instrumentación para la inspección de piezas de precisión fina, montaje, reparación. ...

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Ningbo Huaguang Precision Instrument Co., Ltd.
microscopio electrónico de barrido
microscopio electrónico de barrido
SEM3200

Aumento: 300.000 unit
Resolución espacial: 4, 7, 3 nm
Peso: 480 kg

... CIQTEK SEM3200 es un microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno de alto rendimiento. Tiene excelentes capacidades de calidad de imagen tanto en modo de alto como de bajo vacío. También tiene una gran ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscopio óptico
microscopio óptico
Primotech series

Peso: 8,5, 9,5, 10,1, 9,1 kg
Largo: 467 mm
Ancho: 192 mm

... Su microscopio de materiales con luz reflejada y transmitida, además de imagen inalámbrica opcional. Primotech es su solución inteligente de captura de imágenes con una atractiva relación calidad-precio. Acceda a varios microscopios ...

microscopio de fuerza atómica
microscopio de fuerza atómica

Resolución espacial: 0,02 µm

... Resumen del producto
El microscopio de fuerza atómica (AFM a nivel wafer) es un instrumento de sonda de barrido de alta resolución diseñado para caracterizar la morfología superficial tridimensional y las propiedades multifuncionales ...

microscopio optodigital
microscopio optodigital
HD-Inspektor II

Aumento: 2 unit - 73 unit
Peso: 5 kg

... Aplicaciones: de uso universal para tareas de inspección, reparación y comprobación inspección de placas de circuitos impresos combinable con mesas de inspección y etapas de rótula para un posicionamiento exacto documentación ...

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