Microscopios para la industria electrónica

Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm

... en color de las placas de muestra cubren toda el área de muestra observable por SEM - Funcionamiento despreocupado: las colisiones entre la platina y los componentes del SEM quedan prácticamente eliminadas ...

... herramientas de reconstrucción avanzada para un rendimiento aún más rápido con excelente calidad de imagen Convertible a microscopio (XRM) Xradia Versa A medida que evolucionan sus necesidades de captura de ...

Resolución espacial: 0,7, 1, 0,6 nm

... Caracterización por microscopía electrónica de barrido de nanomateriales con resolución subnanométrica y alto contraste del material. Microscopio electrónico de barrido ...

Resolución espacial: 1,3, 1, 0,8, 3 nm

... Microscopio electrónico de barrido ambiental (ESEM) para el estudio de materiales en estado natural. Microscopio electrónico de barrido ambiental Quattro El microscopio ...

Resolución espacial: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Peso: 5 kg
Ancho: 340 mm

... estas tecnologías significa que los usuarios que se inician en la microscopía electrónica pueden acceder al rendimiento de alta gama del SEM Apreo 2. Además, el Apreo 2 SEM ...

Aumento: 10 unit - 220 unit
Resolución espacial: 650 nm
Peso: 137 g

... modelo es ideal cuando se trabaja con objetos brillantes o reflectantes, como metal, plástico, cristal, joyas, componentes electrónicos, etc. Las principales características del AM7915MZT son: • Sensor Edge de 5 megapíxeles • ...

Aumento: 5 unit - 50 unit
Peso: 105 g
Largo: 10,5 cm

... visión macro con un campo de visualización más extenso y una función de zoom para revelar los detalles más pequeños. Con el microscopio se suministran tapas diferentes, convirtiendo a Dino-Lite Edge en la elección perfecta ...

Aumento: 20 unit - 220 unit
Resolución espacial: 650 nm

... modelo es ideal cuando se trabaja con objetos brillantes o reflectantes, como metal, plástico, cristal, joyas, componentes electrónicos, etc. Las principales características del AM7115MZT son: • Sensor Edge de 5 ...

Aumento: 300.000 unit
Resolución espacial: 4, 7, 3 nm
Peso: 480 kg

CIQTEK SEM3200 es un microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno de alto rendimiento. Tiene excelentes capacidades de calidad de imagen tanto en modo de alto como de bajo vacío. También ...

CIQTEK QDAFM Diamond III/IV es un microscopio central NV de barrido basado en un centro de vacantes de nitrógeno de diamante (centro NV) y tecnología de imágenes magnéticas de barrido AFM. Las propiedades magnéticas de ...

Aumento: 1.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9 nm - 2,5 nm

CIQTEK SEM4000 es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo térmico analítico equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de larga duración y alto brillo. El diseño ...