Microscopios electrónicos Jeol

Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... El SU9000 II es una combinación de SEM de imagen superficial y microscopio de transmisión por barrido con resolución de estructura intrínseca (STEM) optimizado para una resolución extrema. Esto es posible ...

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,6 nm

... Equipado de serie con una esclusa para muestras de 150 mm, el SU8700 ofrece un alto rendimiento de muestras, incluso para las más grandes, y un entorno de cámara de muestras constantemente limpio para obtener imágenes de alta resolución ...

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,7, 0,6 nm

... El SU8600 es el sucesor de la acreditada familia de SEM de emisión de campo Regulus y cumple los requisitos más exigentes para aplicaciones orientadas a la obtención de imágenes. El emisor de campo frío con su emisión ...

Resolución espacial: 0,7, 1,2 nm

ZEISS GeminiSEM permite captar imágenes de forma sencilla con resolución subnanométrica. Estos FE-SEM (microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo) combinan una excelente captura de imágenes ...

Los instrumentos de la familia EVO combinan la microscopía electrónica de barrido (SEM) de alto rendimiento con una experiencia intuitiva y sencilla que resulta atractiva tanto para los usuarios experimentados ...

... análisis FIB-SEM. Maximice su información de SEM Obtenga información auténtica de la muestra de sus imágenes SEM de alta resolución usando la óptica de electrones Gemini. Confíe en el rendimiento ...

Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 10.000 nm

... SEM de sobremesa que permite la fabricación de acero de alta calidad mediante el análisis de fallos y la mejora de los procesos. Los metalúrgicos e investigadores en la fabricación de acero necesitan datos de microscopía ...

Aumento: 2.000.000 unit
Resolución espacial: 2, 10, 3 nm

... Microscopio electrónico de barrido con cañón de emisión de campo de sobremesa para obtener imágenes de alta calidad en todas las disciplinas. Microscopio electrónico ...

Resolución espacial: 0,7, 1, 0,6 nm

... Caracterización por microscopía electrónica de barrido de nanomateriales con resolución subnanométrica y alto contraste del material. Microscopio electrónico de barrido ...

... MICROSCOPIO DIGITAL PARA MEDICIONES AUTOMÁTICAS DE BRINELL ISO 6506 - ASTM E10 Microscopio electrónico para la medición automática de la indentación Brinell con una bola ...

Aumento: 300.000 unit
Resolución espacial: 4, 7, 3 nm
Peso: 480 kg

CIQTEK SEM3200 es un microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno de alto rendimiento. Tiene excelentes capacidades de calidad de imagen tanto en modo de alto como de bajo vacío. También ...

Aumento: 1.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9 nm - 2,5 nm

CIQTEK SEM4000 es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo térmico analítico equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de larga duración y alto brillo. El diseño ...

Aumento: 300.000 unit
Resolución espacial: 4,5, 3,9 nm

... Especificaciones del microscopio SEM CIQTEK SEM2100 Óptica de electrones Resolución: 3.9 nm @ 20 kV, SE 4.5 nm @ 20 kV, BSE Tensión de aceleración: 0,5 kV ~ 30 kV Aumento (Polaroid): ...