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Microscopios electrónicos de barrido

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Hitachi High-Technologies Europe
Microscopio electrónico de barrido (SEM) de mesa  TM3000 Hitachi High-Technologies Europe
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Los emplear tableros siguientes del microscopio de la generación TM3000 el éxito de su precursor, el TM-1000, y ofertas mejoraron perceptiblemente funcionamiento, incluyendo la ampliación hasta 30,000x y una mejor resolución, en una unidad que ocupa el 20% menos espacio y tiene un diseño ahorro de energía. El nuevo TM3000 es un microscopio electrónico variable tablero de exploración de la presión, ...

Microscopio electrónico de barrido para análisis con presión variable (VP FE-SEM)  S-3700 Hitachi High-Technologies Europe
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El S-3700N es una presión variable analítica SEM del compartimiento grande, ofreciendo la flexibilidad analítica extraordinaria combinada con proyección de imagen del alto rendimiento. Los 5 que el eje controlado por ordenador motorizó la etapa con -20° a la inclinación de +90° pueden manejar especímenes hasta 300 milímetros de diámetro y hasta 110 milímetros de alto. El compartimiento grande tiene ...

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo de alta resolución  SU9000 Hitachi High-Technologies Europe
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El nuevo microscopio electrónico de exploración de la emisión de campo SU9000 (FE) (SEM) permite que 0.4 resoluciones del nanómetro sean alcanzadas en un voltaje de aceleración de 30 kilovoltios, con una ampliación usable hasta 3 millones de veces.

Ofreciendo un nuevo tipo de fuente fría del electrón del FE con estabilidad y brillo excelentes, el SU9000 también proporciona la proyección ...

Phenom-World
Microscopio electrónico de barrido (SEM) (3D, Ra, Rz)  3D, Ra, Rz Phenom-World
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Con el uso de la reconstrucción de la aspereza 3D, el fenómeno puede generar imágenes y medidas tridimensionales de la aspereza del submicrometer.

Este uso completamente automatizado para el microscopio electrónico de exploración del fenómeno ayudará a comunicar resultados de la proyección de imagen y extraerá y visualizará datos ocultado normalmente dentro de una muestra.

3D
la ...

Microscopio electrónico de barrido (SEM) para analizar fibras  0.04 - 100 nm | Fibermetric Phenom-World
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Un análisis mejor, más rápido de la fibra

Ahora, observación directa y medida del micr3ofono y
las fibras nanas son más rápidas, mejores y más fácilmente que nunca antes, con
el uso mejorado de Fibermetric.

Conjuntamente con el Phenom™ El favorable microscopio electrónico de escritorio de exploración G2, el uso de Fibermetric permite que usted presente la información ...

Microscopio electrónico de barrido (SEM)  20 - 17 000X | G2 pure Phenom-World
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El Phenom G2 puro es una herramienta ideal para hacer la transición del trabajo con un microscopio ligero a funcionar un microscopio electrónico. El Phenom G2 puro se equipa de los componentes básicos para las necesidades de la proyección de imagen de la reunión.
El Phenom G2 puro proporciona las imágenes de alta calidad mientras que usa características básicas, y ofrece el tiempo más ...

Carl Zeiss MicroImaging
Microscopio electrónico de barrido (SEM) para analizar materiales Carl Zeiss MicroImaging
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Microscopia correlativa

“ Lanzadera y Find” es un interfaz correlativo para la luz y los microscopios electrónicos y proporciona una manera directa de combinar las ventajas de la microscopia ligera con las funcionalidades extensas de los microscopios electrónicos delanteros de la exploración del borde, por ejemplo espectroscopia de radiografía dispersiva de la energía.


Los ...

Carl Zeiss Nano Technology Systems
Microscopio electrónico de campo de emisión mediante barrido (FE-SEM) para análisis  MERLIN Carl Zeiss Nano Technology Systems
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MERLIN™
Energía analítica para el mundo del Secundario-Nanómetro

- Analytics nano
- Información total
- Facilidad del uso
- Futuro confiado

MERLIN™ - análisis y alta resolución en uno
El MERLIN FE-SEM supera el conflicto entre la resolución de la imagen y la capacidad analítica. La base de MERLIN es la columna realzada de los GÉMINIS II que, ...

Microscopio electrónico de barrido (SEM)  EVO Carl Zeiss Nano Technology Systems
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Serie SEM de EVO® mA y del LS
Conducido por usos

La serie SEM de EVO® se ha desarrollado para proveer de usuarios en análisis y ciencias de la vida de materiales los microscopios diseñados para emparejar sus necesidades. Ambas series de los microscopios comparten algunas características dominantes.

Características dominantes
- Geometría principal de la radiografía de ...

Microscopio electrónico de campo de emisión mediante barrido para análisis con presión variable (VP FE-SEM)  ΣIGMA Carl Zeiss Nano Technology Systems
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SIGMA - microscopia analítica avanzada - ahora disponible con tecnología de VP

La SIGMA, ofreciendo tecnología de GEMINI® proporciona proyección de imagen excepcional y resultados analíticos de un microscopio de emisión de campo.

La SIGMA está disponible ahora con la tecnología variable (VP) de la presión para la proyección de imagen y el análisis excepcionales del espécimen non-conductive. ...

Nikon Metrology
Microscopio electrónico de barrido (SEM) de mesa  JCM-5000 Nikon Metrology
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Benchtop SEM de NeoScope
El benchtop SEM de NeoScope complementa económicamente los microscopios ópticos y SEMs tradicional. El NeoScope hace fácil obtener altas imágenes de la ampliación con la profundidad del campo de alta resolución y grande usando un microscopio que sea tan simple funcionar como cámaras digitales, pero tiene la óptica de electrón de gran alcance del los SEM.
Si es utilizado ...

MTI Instruments
Máquina miniatura de ensayo de tracción/compresión para microscopio electrónico de barrido (SEM) MTI Instruments
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MTII adquirió recientemente la marca de fábrica de Fullam de las máquinas extensibles, de la compresión y de la curva miniatura de prueba diseñadas específicamente para el uso en microscopios electrónicos de exploración (SEMs), de los microscopios atómicos de la fuerza (AFMs) y de los microscopios ligeros (LMs). El diseño dual del leadscrew carga simétricamente muestras mientras que las mantiene centradas ...

Jeol
Microscopio electrónico de barrido con haz de iones focalizados (FIB/SEM)  JIB-4501 Jeol

The JIB-4501 is a multi beam SEM-FIB system capable of surface/internal 3D imaging and analysis in a single unit. Featuring an optimum design, the system supports a complete operation from FIB milling to SEM imaging to various analysis including EDS and EBSD.

Features

* High performance LaB6 SEM + High performance/high probe current FIB
* Simple operation of surface/internal ...

Microscopio electrónico de barrido (SEM) Jeol
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JEOL ha desempeñado un papel determinante en el desarrollo y la evolución de la microscopia electrónica de la exploración desde el principios de los 60. Durante las últimas cinco décadas, los SEM se han convertido en una herramienta imprescindible en la investigación avanzada y el análisis de rutina para la ciencia y la industria. JEOL ha instalado más de 8000 SEMs por todo el mundo.

SEMs ...

Microscopio electrónico de barrido (SEM)  max ø. 150 mm | JSM-6510 Jeol
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El JSM-6510 es un costo de alto rendimiento, bajo, microscopio electrónico de exploración para la caracterización rápida y proyección de imagen de estructuras finas. Uno de los modelos de los SEM de la familia de cuatro miembros que son ampliamente utilizados en todos los campos de la investigación y usos industriales, el JSM-6510 permite la observación de especímenes hasta 150m m en diámetro.

A ...

Angstrom Advanced
Microscopio electrónico de barrido (SEM)  AIS2300 Angstrom Advanced
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Los Angstrom-SEM son un instrumento multiusos, multiusos verdadero. Sobresale en flexibilidad y flexibilidad combinando alto rendimiento en todos los modos y la partícula de los SEM contrarios fácilmente de la operación en un ambiente material multiusos de la investigación. Este instrumento ofrece un equilibrio perfecto entre la configuración estable y una resolución excelente. Los Angstrom-SEM demuestran ...

OMICRON
Microscopio electrónico de barrido (SEM) OMICRON
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La combinación "in-situ" de STM, de SEM y de SAM para el análisis estructural y químico de alta resolución crea una herramienta superior de la investigación. La resolución atómica STM es complementada ideal por las capacidades de los SEM a la imagen las superficies grandes, ayuda de identificar campos de interés, y finalmente asiste a colocación exacta de la extremidad del STM al punto deseado en ...

Obducat CamScan
Microscopio electrónico de barrido (SEM) Obducat CamScan
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CS3100

X y movimiento de Y
100m m x 100m m

Opciones del cátodo
Tungsteno

Resolución de SEI
<3.5nm @ 30kV

Voltaje de aceleración
30kV

CS3200

X y movimiento de Y
100m m x 100m m

Opciones del cátodo
Tungsteno (patrón)
LaB6 (opción)

Resolución de SEI
<3.5nm @ 30kV (w)
<2.5nm @ 30kV (LaB6)

Voltaje ...

Microscopio electrónico de campo de emisión mediante barrido (FE-SEM)  Apollo 300 Obducat CamScan

Apollo 300

Thermal Field Emission Scanning Electron Microscope designed to cover a wide range of applications that require ultra high-resolution performance. The Apollo 300 Operates up to 30kV and incorporates through-lens detection for enhancing low kV operation.

Microscopio electrónico de campo de emisión mediante barrido (FE-SEM) con EsB (en columna) Obducat CamScan
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Modelos del patrón 500
Cátodo del tungsteno de X500S
Emisión de campo de X500FE Schottky

Modelo
X500S X500FE
Opciones del cátodo
FE del tungsteno (w) Schottky
Resolución de SEI en
Alto vacío.
<3.5nm @ 30kV <1.5nm @ 25kV
Voltaje de aceleración
patrón 40kV
50kV patrón de la opción 25kV
opción 30kV

SYNBIOSIS
Software para microscopio electrónico de barrido (SEM)  ProtoCOL SYNBIOSIS
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Cada sistema del protocolo viene con el nuevo software del protocolo 2. Este software trae niveles avanzados del control y de la funcionalidad a todos los usos.

El software del protocolo 2 está también disponible como paquete independiente que se pueda utilizar con una PC del tablero del escritorio o de la computadora portátil. Esta PC externa se puede conectar con el protocolo 2 - cuente ...

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