Sistema de haz de iones focalizados NX5000

Rendimiento insuperable con la máxima flexibilidad El microscopio electrónico de fibra óptica Hitachi Ethos incorpora la última generación de microscopios electrónicos de fibra óptica con un brillo y una estabilidad del haz extraordinarios. Ethos ofrece imágenes de alta resolución a tensiones bajas combinadas con óptica iónica para un procesamiento de precisión a nanoescala. Columna FE-SEM de alto rendimiento con modo de doble lente - Observación de ultra alta resolución (modo HR: semi-in-lens) - Detección de punto final de alta precisión en tiempo real (modo FF: Field Free (modo de tiempo compartido)) Procesamiento de materiales de alto rendimiento - Procesamiento ultrarrápido con alta densidad de corriente de iones (corriente máxima del haz: 100 nA) - Script programable por el usuario para autoprocesamiento y observación Sistema de micromuestreo - Control de la orientación de la muestra totalmente integrado para el efecto anticorte (tecnología ACE) - Preparación de muestras TEM para láminas uniformes en cualquier orientación Capacidad de triple haz, con resultados de calidad avanzada - Procesamiento de materiales con haz de iones de gas noble de baja aceleración - Funciones innovadoras que reducen los artefactos relacionados con el ion Ga y otros artefactos de fresado Amplia cámara multipuerto y platina para diversas aplicaciones - Sistema capaz de procesar muestras de gran tamaño con una excepcional estabilidad de la platina - Seguimiento a larga distancia mejorado de rango completo (155 x 155 mm) Óptica de electrones refinada y detección multiseñal La columna Ethos SEM está compuesta por un sistema de lentes objetivo compuesto de campo magnético y electrostático configurado en dos modos de lente. El modo de alta resolución (HR) permite observar la muestra con la máxima resolución sumergiéndola en el campo magnético del sistema de lentes. El modo de campo libre (FF) ofrece procesamiento FIB en tiempo real para fresado de punto final de alta precisión.