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Estaciones de sondeo automáticas
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... ‑Y‑Z), microscopio metalográfico 200× con cámara CCD.
- Estación automática a nivel wafer para
... Descripción general
La
estación de sondas DX1PS3 a nivel wafer para campo magnético en plano está diseñada para la caracterización eléctrica y magnética de materiales semiconductores, dispositivos micro‑nano y dispositivos ...
... identificación automática de dispositivos defectuosos en la oblea y el borrado completo de estos dispositivos de la oblea mediante ablación. El LCS-4000 se ofrece como sistema de configuración motorizado, semiautomático o totalmente ...
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