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... Descripción del producto
Sistema de ensayo de Degradación Inducida por Potencial (PID) y
prueba térmica de diodos by-pass para módulos fotovoltaicos (PV). El sistema simula campos eléctricos intensos y condiciones de humedad-calor, ...
... Resumen
El CT1000-SiPh es un equipo de ensayo para chips ópticos de
silicio diseñado para la industrialización a gran volumen. El sistema combina una sección de ensayo dedicada y una sección de carga/descarga para ofrecer un ...
... Línea de autoprueba de lingotes de silicio monocristalino ...
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