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Microscopios para oblea
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... LED más reciente y está completamente integrada en el microscopio. La baja radiación de calor y la integración en el estativo garantizan que el aire fluya de forma óptima alrededor del microscopio. La larga vida útil ...
... LED más reciente y está completamente integrada en el microscopio. La baja radiación de calor y la integración en el estativo garantizan que el aire fluya de forma óptima alrededor del microscopio. La larga vida útil ...
Resolución espacial: 1 µm
... Los sistemas de microscopios MX63 y MX63L están optimizados para inspecciones de alta calidad de obleas de hasta 300 mm, pantallas planas, placas de circuito y otras muestras de gran tamaño. Su diseño modular le permite ...
microscopio electrónico de transmisión y barridoSU9000 II
Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... El SU9000 II es una combinación de SEM de imagen superficial y microscopio de transmisión por barrido con resolución de estructura intrínseca (STEM) optimizado para una resolución extrema. Esto es posible gracias a la ...
microscopio ópticoEclipse LV100ND
Peso: 9,5 kg
Largo: 657 mm
Ancho: 251 mm
... análisis Gracias al diseño modular, el microscopio universal permite utilizar técnicas de contraste óptico complementarias en un solo soporte para microscopio. Nikon ECLIPSE LV100NDA y LV100ND Estos microscopios ...
Nikon Metrology
... control en línea de la producción de obleas encoladas. Es compatible con sala limpia clase 10. La aplicación principal es la detección de vacíos, inclusiones y áreas delaminadas en la interfaz de unión de las obleas. ...
Resolución espacial: 5 µm
... características de 1 μm y 3 ejes lineales con rodamiento de bolas de precisión Triax: mediciones de bajo ruido hasta niveles de fA - Microscopio estéreo: aumento de 15x-100x con gran campo de visión y montura c preparada para cámara - ...
FORMFACTOR
Aumento: 2.500 unit - 6.000 unit
Peso: 10,8 kg
... Capture detalles que otros microscopios pasan por alto La combinación de iluminación desde múltiples direcciones permite observar con claridad sutiles condiciones de la superficie que hasta ahora eran imposibles de ver con microscopios ...
microscopio de fuerza atómica
Resolución espacial: 0,02 µm
... escaneo piezoeléctrico con un solo botón.
Indicadores ...
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