Sistemas de preparación de muestra para SEM

... extrayendo una micromuestra con un haz de iones en la cámara de vacío de un sistema FIB. Unidad de micromuestreo FIB y método de micromuestreo FIB Un ejemplo de muestreo de micropilares ...

... disminuye el daño a la muestra y reduce el tamaño medio de las partículas - Cámara opcional para muestras de hasta 150 mm de diámetro - Espaciador opcional para muestras ...

... la superficie de la muestra y el haz de electrones irradiado generan la contaminación de la muestra. Los hidrocarburos se adhieren generalmente de forma no covalente a la superficie de la muestra ...

... el fresado plano para preparar muestras en función de la finalidad. El control de la temperatura de refrigeración, la unidad de soporte de protección del aire y varias opciones permiten la preparación ...

... El sistema de haz de iones amplio más avanzado para producir muestras de sección transversal o de fresado plano de excepcional calidad para la microscopía electrónica. El ArBlade 5000 está equipado con ...

... para la preparación de muestras previa al análisis, garantizando los mejores datos posibles de sus muestras TEM. Las superficies de las muestras se contaminan inevitablemente ...

... artefactos. Prepare sus muestras para llevar a cabo un examen visual detallado en condiciones óptimas: - Una pantalla protectora muy fría alrededor de la muestra que evita que las moléculas de agua ...

Con el Leica EM VCT500 se pueden transferir muestras en condiciones criogénicas o a temperatura ambiente, así como también al vacío o en atmósfera controlada.

El sistema Leica EM TXP es un dispositivo de preparación de blancos para fresar, aserrar, triturar y pulir muestras antes de realizar un examen mediante técnicas de SEM, ...

El sistema de corte y pulido con triple haz de iones Leica EM TIC 3X permite obtener secciones transversales y superficies pulidas para la microscopía electrónica de barrido (SEM), el ...

El sistema Leica EM TRIM2 es un sistema de fresado de alta velocidad con microscopio estereoscópico integrado e iluminador de anillo LED para el desbaste de muestras biológicas e industriales ...

... preparadas para tomografía matricial con el microscopio electrónico de barrido (SEM). Ahorre tiempo y esfuerzo en la preparación de muestras biológicas y en procedimientos ...

... crioultramicrotomo en minutos instalando la criocámara Leica EM FC7 y prepare sus criocortes (de -15 °C a -185 °C) para TEM, SEM, AFM y LM.

Gracias al sistema de recubrimiento Leica EM ACE200, producir recubrimientos conductivos y homogéneos de metal o carbono para análisis SEM y TEM nunca ha sido tan cómodo. Si se configura como metalizador ...

Su mejor elección para conseguir la máxima resolución en el análisis de TEM y FE-SEM. El sistema Leica EM ACE600 es EL sistema de deposición de película de alto vacío perfecto y versátil. ...