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Espectrómetro infrarrojo medio Scanning SFG
para investigación y desarrollopara científicasde mesa

Espectrómetro infrarrojo medio - Scanning SFG - EKSPLA - para investigación y desarrollo / para científicas / de mesa
Espectrómetro infrarrojo medio - Scanning SFG - EKSPLA - para investigación y desarrollo / para científicas / de mesa
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Características

Tipo
infrarrojo medio
Sector
para científicas, para investigación y desarrollo
Configuración
de mesa
Tipo de detector
PMT
Otras características
de alta resolución, de alta sensibilidad
Longitud de onda

Mín.: 420 nm

Máx.: 680 nm

Descripción

El espectrómetro SFG de barrido es un espectrómetro vibracional de generación de suma de frecuencias (SFG) de picosegundos diseñado para la investigación in situ de superficies e interfaces. Utiliza un pulso IR medio de banda estrecha cuya longitud de onda se cambia punto por punto durante la medición, con la señal SFG registrada por un fotomultiplicador con puerta de tiempo para alta sensibilidad y selectividad.

Ventajas
  • Sensible y selectivo a la orientación de las moléculas en la capa superficial
  • Intrínsecamente específico de la superficie
  • Selectivo a especies adsorbidas
  • Sensible a submonocapas de moléculas
  • Aplicable a todas las interfaces accesibles a la luz
  • No destructivo
  • Capaz de alta resolución espectral y espacial


Aplicaciones
  • Investigación de superficies e interfaces de sólidos, líquidos, polímeros, membranas biológicas y otros sistemas
  • Estudios de estructura de superficie, composición química y orientación molecular
  • Detección remota en ambientes hostiles
  • Investigación de reacciones de superficie bajo atmósfera real, catálisis, dinámica de superficie
  • Estudios de crecimiento epitaxial, electroquímica, problemas materiales y ambientales


Espectroscopía vibracional de generación de suma de frecuencias
  • La SFG-VS es un método poderoso y versátil para la investigación in situ de superficies e interfaces
  • Combina un haz láser IR pulsado sintonizable con un haz visible para producir una salida en la frecuencia de suma
  • Altamente específico de la superficie debido a la ruptura de simetría en las interfaces
  • Proporciona información espectral sobre transiciones vibracionales de superficie
  • Permite la extracción de información detallada sobre el orden y la orientación de grupos moleculares en la interfaz


Características y diseño del sistema
  • Láser Nd:YAG bloqueado en modo de picosegundos y generador paramétrico óptico en una unidad
  • Módulo de espectroscopía con detectores de señal basados en PMT, sistema de adquisición de datos y software dedicado LabView®
  • Barrido rápido de longitud de onda para acceso rápido a un amplio rango espectral
  • Amplia región espectral: sintonización automática de 625 a 4300 cm⁻¹
  • Alta resolución espectral (3 cm⁻¹)
  • Ajuste fácil de ópticas de polarización
  • Diseño de dos unidades: fuente de luz láser PT501 y módulo de espectroscopía
  • Puerta temporal en el sistema de detección reduce el ruido y permite la operación en habitaciones iluminadas
  • Tamaño del punto del haz IR ajustable para evitar daños en la muestra
  • Interruptor de polarización motorizado para IR (estándar), VIS y SFG (opcional)
  • Monitoreo continuo de energía para normalización de espectros SFG
  • Gran compartimento de muestra personalizable para varias extensiones (por ejemplo, cubeta de Langmuir-Blodgett, control de temperatura/humedad)
  • Todos los haces pulsados de alta energía están encerrados para seguridad; el área de muestra tiene una cubierta especial


Modificaciones y opciones
  • Espectrómetro SFG de doble resonancia: permite la investigación del acoplamiento de modos vibracionales a estados electrónicos en una superficie
  • Espectrómetro SFG sensible a la fase: permite la medición de los espectros complejos de los coeficientes de respuesta no lineal de superficie
  • Haz VIS de longitud de onda simple o doble: 532 nm y/o 1064 nm
  • Uno o dos canales de detección: señal principal y referencia
  • Opción de espectroscopía de superficie de generación de segunda armónica
  • Control de polarización motorizado para haces VIS y SFG
  • Compartimento de muestra más grande para acomodar la cubeta de Langmuir
  • Medición simultánea de la polarización s y p de la señal SFG


Control de polarización
  • Medición simultánea de la polarización S y P en el sistema de detección dual
  • Control de polarización motorizado para haces SFG, VIS e IR
  • Cambio automático de polarización y atenuación de energía para mediciones sin abrir el espectrómetro


Accesorios
  • Soporte de muestra de seis ejes
  • Cámara de muestra sellada con control de temperatura
  • Área de muestra más grande para la cubeta de Langmuir
  • Motorización del control de polarización para haces VIS e IR, analizador de polarización para la señal SFG


Características / Especificaciones técnicas
  • Rango espectral: 625 – 4300 cm⁻¹ (Clásico y Doble resonancia, VIS 532 nm); 1000 – 4300 cm⁻¹ (VIS 420–680 nm y Sensible a la fase)
  • Resolución espectral: < 3 cm⁻¹
  • Método de adquisición de espectros: Barrido y barrido rápido de longitud de onda
  • Geometría de iluminación de la muestra: Lado superior, reflexión
  • Geometría de los haces de incidencia: Co-propagación, no colineal
  • Ángulos de incidencia: Fijos, VIS ~60°, IR ~55° (opcional: sintonizable)
  • Longitud de onda del haz VIS: 532 nm (Clásico y Sensible a la fase); 532 nm y sintonizable 420–680 nm (Doble resonancia)
  • Polarización (VIS, IR, SFG): Lineal, seleccionable “s” o “p”, pureza > 1:100
  • Punto del haz IR en la muestra: Ajustable, ~200–600 µm (Clásico y Doble resonancia); Fijo (Sensible a la fase)
  • Sensibilidad: Espectros de interfaz aire-agua (Clásico y Doble resonancia); Espectros de muestras sólidas (Sensible a la fase)
  • Modelo de fuente de luz láser: PT501-SH
  • Duración del pulso: 29 ± 5 ps
  • Tasa de repetición de pulsos: 100 Hz
  • Fuente UV-VIS para SFG de doble resonancia: PT401
  • Características físicas (huella): 1300 × 1200 mm (Clásico), 1800 × 1200 mm (Doble resonancia), 1400 × 1200 mm (Sensible a la fase)
* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.