Descripción generalSistema AOI 3D de ultra‑precisión diseñado específicamente para aplicaciones de encapsulado de semiconductores. Optimizado para inspecciones de alta velocidad y alta resolución en superficies brillantes y materiales variados, con cargador/descargador tipo magazine integrado.
Características principales- AOI 3D de ultra‑precisión que utiliza método de escaneo por línea láser de alta resolución
- Cargador/descargador tipo magazine integrado para una manipulación de material eficiente
- Captura y procesamiento extremadamente rápidos para alto rendimiento
- Rendimiento de inspección insensible al color, material o rugosidad superficial
- Inspección eficaz de superficies altamente especulares (reflectantes)
Elementos de inspección- SiP (System-in-Package)
- Die attach
- Underfill
- Pasta de soldadura y bump
- Clip de Cu sobre el die
- IGBT
- Otros componentes de encapsulado de semiconductores
Posicionamiento / Familia de producto- Parte de la familia de productos Xceed MICRO (Xceed MICRO │ AXION │ PRECION │ ARTION)
Especificaciones técnicas- Manufacturer: PARMI
- Model name: AXION
- Aplicación: Inspección de encapsulado de semiconductores
- Método de imagen: Escaneo por línea láser de alta resolución
- Tipo de cargador: Cargador/descargador tipo magazine integrado
- Diseñado para: Inspección insensible al color, material y rugosidad superficial; optimizado para superficies altamente especulares
- Elementos de inspección compatibles: SiP, die attach, underfill, pasta de soldadura y bump, clip de Cu sobre el die, IGBT, etc.