Microscopio SEM CLARA

para inspección de materialde mesaautomatizado

SEM UHR analítico de Campo libre para caracterización de materiales a nano escala • Caracterización sin compromiso de todo tipo de materiales a nanoescala • Ideal para la caracterización de materiales a bajas energías de haz con máxima topografía de la superficie. • Excelente imagen de muestras sensibles al haz y no conductoras • Configuración del haz de electrones totalmente automatizada: las condiciones de imagen óptima están garantizadas por In-Flight Beam Tracing™ • Navegación intuitiva en vivo de la muestra SEM con un aumento de hasta 2× sin necesidad de una cámara óptica de navegación adicional gracias al diseño Wide Field Optics™ • Diseño exclusivo de Multidetector In-Beam que permite la detección de BSE de ángulo y energía selectivos • Software intuitivo de plataforma modular diseñado para operación sin esfuerzo, independientemente del nivel de habilidad de los usuarios